方塊電阻測(cè)量?jī)x 薄膜厚度測(cè)量?jī)x 表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 納米壓痕儀 光學(xué)輪廓儀 探針式輪廓儀

接觸角測(cè)量系統(tǒng) 橢偏儀 光譜反射儀 薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)

WB-200 半自動(dòng)引線鍵合機(jī)

AT-400原子層沉積

批量型兆聲清洗系統(tǒng)

聲表面波SAW功率發(fā)生器

HMS-3300霍爾效應(yīng)測(cè)試儀 HMS-3000霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

等離子刻蝕ICP

高密度化學(xué)氣相沉積系統(tǒng) PECVD沉積

光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 Post-CMP Cleans 光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 Post-Etch Cleans 光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 LED, TSV, & WLP Cleans 光刻膠蝕刻殘留物清洗劑 Post-Patterning Cleans 光刻膠蝕刻殘留物清洗劑Emerging Cleans

等離子刻蝕ICP

磁體探針臺(tái) 低溫探針臺(tái)

紫外掩膜對(duì)準(zhǔn)曝光系統(tǒng) 紫外掩膜曝光機(jī)

快速退火爐

人體運(yùn)動(dòng)能耗監(jiān)測(cè)儀

Semi-KLEEN Sapphire 等離子清洗機(jī) SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機(jī) Semi-KLEEN Quartz石英等離子體清洗機(jī) EM-KLEEN等離子體清洗機(jī) Tergeo-EM TEM/SEM 等離子體清洗機(jī) Tergeo-Pro桌面等離子清洗機(jī) Tergeo-Plus桌面等離子清洗機(jī) Tergeo桌面等離子清洗機(jī) 離子源 氣體混配器 多用途樣品清潔及儲(chǔ)存腔室 TEM 樣品架真空泵站

檢測(cè)相機(jī) 返工工作站 激光疊片機(jī) / 拆片機(jī) 劃刻器 MPT手動(dòng)拉力測(cè)試儀 焊線機(jī) 芯片鍵合機(jī)

Model 32 UV LED 光源 Model 30 準(zhǔn)直紫外光源及曝光系統(tǒng) MCP-T710 電阻儀 MCP-T380通用便攜式電阻率儀 Model 659 紫外線光強(qiáng)與能量計(jì) Model 656 紫外線光強(qiáng)與能量計(jì) Model 308 紫外線光度計(jì) 太陽(yáng)能電池高性能測(cè)試夾具 太陽(yáng)能功率計(jì) 集成式 IV 光伏測(cè)試系統(tǒng) AML 原位對(duì)準(zhǔn)晶圓鍵合機(jī) CPV 聚光太陽(yáng)模擬器 AAA 標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器 Model 6020 全自動(dòng)掩模曝光機(jī) Model 6000 生產(chǎn)型掩膜曝光機(jī) Model 2000 邊緣去膠紫外泛光曝光機(jī) Model 800E 紫外掩膜曝光機(jī) Model 212 紫外掩膜曝光機(jī) Model 200 紫外掩膜曝光機(jī)

RSS-160-SC 緊湊型回流焊系統(tǒng) 2Z-HVS-200 高真空封裝機(jī) 2Z-HVS-100 高真空封裝機(jī) VSS-650 真空焊接系統(tǒng) RSS-3X210 緊湊型回流焊系統(tǒng) RSO-300 真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng) RSO-210 真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng) VSS-450-300 臺(tái)式真空燒結(jié)爐 RSS-210-S 臺(tái)式真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng) RSS-110-S 迷你真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng) RSS-160-S 迷你真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng)

USB 光纖干涉儀 hpSPM 掃描探針顯微鏡控制器 NMI 納米定位器 NMI 振動(dòng)樣品磁力計(jì) LT-AC/DC 臺(tái)式霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) XYZ 低溫壓電掃描儀 mK-CFM/RAMAN 低溫顯微鏡 LT-APO 低溫物鏡 NMI 低溫恒溫器 NV-中心共聚焦低溫顯微鏡 LT-sSNOM 低溫顯微鏡 LT-SHPM/STM 低溫顯微鏡 LT-AFM/MFM 低溫顯微鏡 hpAFM 原子力顯微鏡 ezSTM 掃描隧道顯微鏡 ezAFM+ 便攜式原子力顯微鏡 ezAFM 便攜式原子力顯微鏡 光霍爾效應(yīng)測(cè)試儀 納秒瞬態(tài)吸收光譜儀

高真空MEMS焊封機(jī)