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當(dāng)前位置：德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)有限公司>>產(chǎn)品展示>>KLA/科磊>>探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維...
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測(cè)量幾納米到1200微米高的2D臺(tái)階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對(duì)粗糙度、彎曲度和應(yīng)力...
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維...
半導(dǎo)體薄膜生長(zhǎng)表面檢測(cè)KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2...
KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個(gè)高分辨率、自動(dòng)化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。P-260支持臺(tái)階高度、粗糙...
KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動(dòng)化輪廓儀，可為生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、...
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