掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置，用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)。

主要特點：

功函分辨率<3meV

掃描面積：5mm to 300mm（四種型號，每種型號掃描面積不同）

掃描分辨率：317.5nm

自動高度調節(jié)

掃描開爾文探針應用領域：

有機和非有機半導體

金屬

薄膜

太陽能電池和有機光伏材料

腐蝕

升級附件：

大氣光子發(fā)射系統(tǒng)

表面光電壓(QTH or LED)

SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)

金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm

相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱