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開爾文探針
開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置，用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而其是一種...

型號： KP020 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/23 16:35:58 對比

開爾文探針價(jià)格功函數(shù)測量單點(diǎn)開爾文探針掃描開爾文探針開爾文
掃描開爾文探針
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置，用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾...

型號： SKP5050 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/23 16:32:37 對比

開爾文探針單點(diǎn)開爾文探針掃描開爾文探針價(jià)格探針開爾文探針價(jià)格
薄膜應(yīng)力測試儀/日本TOHO
薄膜應(yīng)力量測設(shè)備FLX系列設(shè)備是由日本TOHO公司所生產(chǎn)的，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)薄膜應(yīng)力的量測。薄膜應(yīng)力測試儀/日本TOHO測試原理：在硅晶圓或者其他材料基地上...

型號： FLX-2320-... 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/23 16:22:26 對比

日本TOHO薄膜應(yīng)力測試儀FLX-2320-R薄膜應(yīng)力測量儀薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng)
薄膜應(yīng)力測試儀
具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)，尤其具有測量整面翹曲曲率分布的能力。

型號： MKW-3800 所在地：上海市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/5 9:50:48 對比

薄膜應(yīng)力測試儀晶圓翹曲應(yīng)力測量儀國產(chǎn)薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力