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設(shè)備主要利用渦電流測試原理,非接觸測試半導(dǎo)體材料,石墨烯,透明導(dǎo)電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)??蓪崿F(xiàn)單點測試,亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能,可用于材...
PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產(chǎn)力的一個因素,因為它關(guān)系到每個硅塊所生產(chǎn)出的硅片數(shù)量。超薄的硅片給線鋸技術(shù)提出了額外的挑戰(zhàn),因為其生產(chǎn)過程...
我司主營:晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,遷移率少子壽命測試儀。
渦流法電阻率測試儀的樣品尺寸:2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品;遷移率測量范圍:100-20000(cm2/v.sec);方塊電阻測量范圍:...
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,...
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控...
主營產(chǎn)品:晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,測試硅片,碳化硅、科...
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