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藍(lán)寶石厚度TTV測(cè)試儀
非接觸式無(wú)損測(cè)厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一...

型號(hào)：所在地：蘇州市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/26 11:38:39 對(duì)比

厚度藍(lán)寶石晶圓TTV非接觸
非接觸硅片厚度TTV測(cè)試儀
非接觸式無(wú)損測(cè)厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一...

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非接觸厚度TTV硅片晶圓
晶圓厚度TTV測(cè)試儀
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，晶圓的厚度測(cè)量是至關(guān)重要的一環(huán)，它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測(cè)量的需求，我們研發(fā)了一款對(duì)射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測(cè)量設(shè)...

型號(hào)：所在地：蘇州市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/26 11:32:22 對(duì)比

晶圓厚度TTV半導(dǎo)體硅片
金剛石厚度TTV測(cè)試儀
金剛石膜檢測(cè)與測(cè)試報(bào)告檢測(cè)項(xiàng)目金剛石膜的檢測(cè)項(xiàng)目主要包括以下幾個(gè)方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。

型號(hào)：所在地：蘇州市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/26 11:30:24 對(duì)比

厚度金剛石硅片TTV晶圓半導(dǎo)體
硅片厚度TTV測(cè)試儀
硅片厚度測(cè)試的方法主要包括非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù)，如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中，反射率法是通過測(cè)量不同角度下光線的反射率變化來計(jì)算硅片厚...

型號(hào)：所在地：蘇州市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/26 11:28:38 對(duì)比

硅片TTV厚度非接觸晶圓半導(dǎo)體
硅片電阻率測(cè)試儀
硅片電阻率測(cè)試儀：電阻率（resistivity）是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下，有公式R=ρl/S，其中ρ就是電阻率，l為材料的長(zhǎng)度，...

型號(hào)：所在地：蘇州市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2025/6/26 10:54:23 對(duì)比

硅片電阻率渦流法方阻半導(dǎo)體