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SpectraRay/4薄膜計(jì)量光譜儀軟件PX 1950
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DSM8/200 Gen2測量系統(tǒng)PX 1950
ELIONIX-5超顯微壓痕硬度計(jì)PX 1950
UX50晶圓探測器PX 1950
Cougar EVO緊透尺寸檢測系統(tǒng)PX 1950
00C-TNF晶圓光學(xué)檢測鑷MEISTER-00CPX 3767
MKW-3800薄膜應(yīng)力測試儀PX 2027
customized四探針電阻率測試儀PX 1950
K.P.Mundinger AP-D-Le手持式皮革濕度計(jì)AQUA-PICCOLOPX 2659
AQUA-PICCOLOKPM AQUA-PICCOLO 4探針皮革水分測試儀PX 2659
全自動雙鏡頭影像測量儀領(lǐng)卓科技PX 0
LPA38-3-V40E2美國 Logosol 嵌入式預(yù)對準(zhǔn)器 晶圓處理PX 3550
LPA12FS-3美國 Logosol 預(yù)對準(zhǔn)器 巡邊臺 晶圓處理PX 3550
LS-173E美國 Logosol 分布式控制網(wǎng)絡(luò)控制器 晶圓PX 3550
LPA12ET-3-RETV1美國 Logosol LPA系列預(yù)對準(zhǔn)器 晶圓處理PX 3550
WD4000晶圓幾何形貌在線測量系統(tǒng)PX 7143
LPA6EH-3美國 Logosol LPA系列預(yù)對準(zhǔn)器 晶圓處理PX 3550
YP-150I備庫銷售-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3538
YP-150I現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 3538
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FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視 檢查燈PX 3538
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FY-18N現(xiàn)貨 FUNATECH 液晶表面檢查燈PX 3538
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FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH表面劃痕灰塵檢查燈PX 3538
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH多用途LED目視照明燈PX 3538
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
薄膜表面應(yīng)力儀
應(yīng)力測量儀
晶圓應(yīng)力測量儀
晶圓三維顯微形貌測量系統(tǒng)
渦流法金屬薄膜電阻率測試儀
晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012
晶圓THK測量設(shè)備
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001
EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測燈 PSVLX1-F5016
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營許可證
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