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首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)

  • 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價:面議

    ●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性●可進行高速的即時研磨檢測●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測●可對應長工作距離、且容易安裝...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/7/24 14:02:40570
  • 光波場三維顯微鏡 MINUK 參考價:面議

    MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備,可以單次獲取高度方向的信息,并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外,還可以高速掃描任何表面并確定...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    光波場三維顯微鏡
    2025/7/24 14:01:03417
  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價:面議

    本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途,可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑
    2025/7/24 13:59:32488
  • ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價:面議

    ● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑
    2025/7/24 13:57:58451
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價:面議

    ELSZ series的最zu高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進行分子量測定的...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑分子量
    2025/7/24 13:56:25488
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價:面議

    ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍(0.6nm~10um),濃度范圍(0.00001%~40%)...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    ZETA電位粒徑分子量
    2025/7/24 13:54:23508
  • OPTM series 嵌入型 參考價:面議

    利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點,在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/7/24 13:52:43441
  • Load Port對應膜厚測量系統(tǒng) GS-300 參考價:面議

    ●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊●支持半導體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    膜厚儀
    2025/7/24 13:50:16509
  • 半導體晶圓缺陷檢測儀 參考價:面議

    半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù),通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    晶圓缺陷檢測儀半導體晶圓缺陷晶圓半導體晶圓缺陷
    2025/7/24 13:04:567898
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) 參考價:面議

    ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
    型號: ELSZ-2000... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    分子量測試系統(tǒng)測試系統(tǒng)ZETA電位粒徑分子量
    2025/7/24 13:03:046717
  • 光電流測試 參考價:面議

    光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法,主要應用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領域。
    型號: S-LBIC 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微光電流成像系統(tǒng)成像系統(tǒng)光電流成像顯微光電流顯微
    2025/7/24 13:01:092036
  • 便攜式拉曼光譜儀 參考價:面議

    AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨立的研究儀器,旨在進行光譜測量,其能力達到*端系統(tǒng)的水平。 RU120采用剛性無活動部件設計,無需調(diào)整,具有...
    型號: RU120 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    便攜式拉曼光譜儀光譜儀便攜式拉曼RU120
    2025/7/24 12:55:486556
  • 高光譜測試系統(tǒng) 參考價:面議

    高光譜測試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng),其原理新穎,相比較其他分光系統(tǒng)具有光學相對孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    高光譜測試系統(tǒng)高光譜測試系統(tǒng)高光譜測試
    2025/7/24 7:04:532338
  • 顯微分光膜厚儀 參考價:面議

    OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目:?絕.對反射率測量?多層膜解析?光學常數(shù)分析(n:折射率,k:消光系數(shù))
    型號: OPTM 系列 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微分光膜厚儀膜厚儀分光膜厚儀顯微分光OPTM
    2025/7/24 7:02:457878
  • 超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng) 參考價:面議

    該系統(tǒng)設計與奧林巴斯倒置顯微鏡和高速CMOS相機相結(jié)合,用于檢測微納樣品的光激發(fā)載流子動力學可視化過程;同時具備微區(qū)瞬態(tài)反射(透射)光譜和動力學測試功能。系統(tǒng)同...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    瞬態(tài)吸收吸收系統(tǒng)瞬態(tài)吸收瞬態(tài)吸收系統(tǒng)
    2025/7/24 7:00:592214
  • 太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) 參考價:面議

    太陽能電池量子效率測試系統(tǒng)?Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測量量子效率 (QE)(也稱為入射光子到電荷載流子效率 (IPCE)) 的預配置而靈活的解決...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    太陽能太陽能電池量子太陽能電池量子效率電池量子測試系統(tǒng)
    2025/7/23 21:59:592293
  • 太陽光模擬器 參考價:面議

    Oriel Sol3A 太陽光模擬器采用單燈設計,滿足全部 3A 級性能標準,而不影 響其 1 個太陽光強輸出功率。按照慣例,AAA 級的第.一個字母代表光譜匹...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    太陽光模擬器模擬器太陽光IV系統(tǒng)
    2025/7/23 21:58:212264
  • 光電流成像 參考價:面議

    光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術(shù)。該技術(shù)通過在器件或材料表面照射光源,并測量其產(chǎn)生的電流信號,來獲得材料或器件的空間分布信息。
    型號: S-LBIC 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微光電流成像系統(tǒng)成像系統(tǒng)光電流成像顯微光電流顯微
    2025/7/23 21:55:542323
  • 探測器光譜響應測試系統(tǒng) 參考價:面議

    S-DSR探測器光譜響應測試系統(tǒng)? 寬光譜范圍(200~14000nm可選),適用面廣? 調(diào)制法測量技術(shù),提升測量結(jié)果信噪比? 開機即用的Turnkey系統(tǒng)設計...
    型號: S-DSR 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    探測器光譜測試系統(tǒng)探測器光譜響應度測試光譜響應度
    2025/7/23 21:53:282405
  • 光譜變溫附件/探針臺 參考價:面議

    光譜變溫附件/探針臺THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍(-196°C到 600°C)和升溫速 率(0.1 到 1...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    光譜變溫附件探針臺光譜變溫
    2025/7/23 21:51:082017
  • SERS增強試劑 參考價:面議

    波銘科儀銷售的多種SERS增強試劑、SERS芯片,均是經(jīng)過嚴格反復試驗、驗證、摸索制備而成,各項性能指標都很優(yōu) 良,能滿足大多數(shù)生物分子、染料分子及其他分析物分...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    增強試劑增強試劑SERS
    2025/7/23 21:49:251698
  • 熒光量子效率測試系統(tǒng) 參考價:面議

    QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區(qū)域 的雜散...
    型號: QE-2000 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    熒光量子效率測試系統(tǒng)熒光量子效率熒光量子量子效率測試系統(tǒng)
    2025/7/23 21:47:492124
  • 顯微熒光成像系統(tǒng) 參考價:面議

    S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng)光致發(fā)光(photoluminescence)即PL,是用紫外、 可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,在半 導體材料的發(fā)光特性...
    型號: S-MPL系列 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    顯微熒光系統(tǒng)熒光顯微熒光S-MP顯微
    2025/7/23 21:45:591979
  • 組合熒光系統(tǒng) 參考價:面議

    組合熒光系統(tǒng)采用模塊化設計,既可實現(xiàn)穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)測量,又能實現(xiàn)UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統(tǒng)多種部件可供選擇(光源、探測器、樣品架、變溫模塊等)...
    型號: S-Fluo系列 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    組合熒光系統(tǒng)熒光系統(tǒng)組合熒光S-Fluo熒光
    2025/7/23 21:44:181879

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