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上海波銘科學(xué)儀器有限公司
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首頁(yè)>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)>>成像亮度計(jì)
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顯微缺陷膜厚
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀
高光譜測(cè)試系統(tǒng)
瞬態(tài)吸收系統(tǒng)
太陽(yáng)能電池量子效率
太陽(yáng)光模擬器IV系統(tǒng)
顯微光電流成像系統(tǒng)
探測(cè)器光響應(yīng)度系統(tǒng)
光譜變溫附件探針臺(tái)
拉曼SERS增強(qiáng)試劑
顯微熒光系統(tǒng)
組合熒光系統(tǒng)
鏡頭透過率測(cè)試系統(tǒng)
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成像亮度計(jì)
標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo)
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