美國國家標(biāo)準(zhǔn)局（National Instituteof Standards and Technology，NIST）提供1300多種通過認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)參考材料即標(biāo)樣（Standard Reference Materials®，SRM），這些標(biāo)樣含有準(zhǔn)確表征的組成成分和/或?qū)傩?，可用于校?zhǔn)儀器設(shè)備，驗證特定測量技術(shù)的準(zhǔn)確性等作用。

NIST提供的標(biāo)樣廣泛應(yīng)用于工業(yè)、學(xué)術(shù)和政府機(jī)構(gòu)，用來促進(jìn)相關(guān)研究的進(jìn)展和開發(fā)過程。每種標(biāo)樣均附帶分析證書和相關(guān)數(shù)據(jù)，作為測量、校正的重要參考數(shù)據(jù)。

 在X射線衍射中，我們所用的X射線衍射儀需要定期進(jìn)行校正，包括角度、強(qiáng)度、峰型等參數(shù)的校正，在校正過程中，須用到NIST提供的SRM系列的標(biāo)樣，本文主要介紹在XRD研究和工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域所涉及到的SRM標(biāo)樣。

標(biāo)樣--角度標(biāo)樣

角度校正標(biāo)樣的作用：

• 校正和準(zhǔn)確測定d值；

• 校正和準(zhǔn)確測定晶胞參數(shù)；

• 作為內(nèi)標(biāo)，校正樣品位移/透過；

NIST常用角度校正標(biāo)樣的規(guī)格參數(shù)：

重要提示：

SRM 640f 常用于內(nèi)標(biāo)樣品

標(biāo)樣—峰型標(biāo)樣

峰型校正標(biāo)樣的作用：

• 確定儀器分辨率；

• 用于Rietveld精修分析校正

• 用于測定晶粒尺寸校正；

• 用于測定應(yīng)力校正；

• 確定XRD儀器狀態(tài)，如分辨率、光路、光管功率VS時間；

 NIST常用峰型校正標(biāo)樣的規(guī)格參數(shù)

重要提示：

SRM 640c 用于Rietveld精修（最佳角度范圍內(nèi)）；

SRM 1979用于晶粒尺寸校正；

SRM 1976b 用于校正XRD儀器狀態(tài)；

標(biāo)樣—定量分析校正

標(biāo)樣—定量分析標(biāo)樣

定量分析校正標(biāo)樣的作用：

• 校正定量分析；

• 測試/估計定量分析軟件準(zhǔn)確度；

• 測試/估計XRD儀器狀態(tài)；

 NIST常用定分析標(biāo)樣的規(guī)格參數(shù)

重要提示：

不同的方法需采用相應(yīng)的SRM標(biāo)樣；