詳細(xì)介紹
一級光譜純 (Grade 1 Spec-Pure) TEM/SEM鍍碳儀鍍膜儀專用石墨碳棒
這是一款光譜純的石墨結(jié)構(gòu)碳棒,高純度,專為高要求的電鏡分析應(yīng)用而設(shè)計。
主要特性:
純度: 總雜質(zhì)含量 ≤ 2ppm,且單一元素雜質(zhì)含量 ≤ 1ppm。
痕量元素: 可能存在的痕量元素包括硅(Si)、鋁(Al)、鐵(Fe)、鎂(Mg)、鈣(Ca)或硼(B),其含量均不超過 1ppm。
應(yīng)用范圍: 強(qiáng)烈推薦用于對分析精度有嚴(yán)苛要求的應(yīng)用,例如:透射電鏡(TEM)、場發(fā)射掃描電鏡(FESEM)、聚焦離子束(FIB)、波譜儀(WDS)、電子背散射衍射(EBSD)、電子探針(Microprobe)以及高要求的掃描電鏡/能譜(SEM/EDS)分析。
產(chǎn)品規(guī)格:
長度: 所有規(guī)格統(tǒng)一為 12英寸 (約 305 mm)。
標(biāo)稱直徑: 提供三種規(guī)格,以適配不同型號的高真空碳鍍膜儀:
1/8" (3.175 mm)
3/16" (4.76 mm)
1/4" (6.35 mm)
物理性能參數(shù):
密度: 1.10 g/cm3
電阻率: 67 µΩm
肖氏硬度: 32
孔隙率: 29%