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深圳膜厚儀
閱讀：556 發(fā)布時間：2017-4-17
熒光X-射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征
- 可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
- 可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
- 薄膜FP法軟件是標(biāo)準配置，可同時對多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進行測量。此外，也適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
- 備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標(biāo)準樣品。
- 薄膜FP法
采用薄膜FP法，只需要比標(biāo)準曲線法更少的標(biāo)準樣品，就能簡單迅速地得到定量的結(jié)果。
如果樣品均勻，所使用分析線的強度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來表示。換句話說，從任意組成的樣品所產(chǎn)生的分析線強度，都可以從這基本參數(shù)來計算出，所以我們稱這種方法為基本參數(shù)法。
如果熒光X射線產(chǎn)生的深度當(dāng)做限大來考慮，這方法就適用于塊體樣品；如果將熒光X射線產(chǎn)生的深度當(dāng)做非常小的值（臨界厚度以下）來考慮，這方法就可以適用于薄膜樣品。
如上所述，FP法的zui大特征是可對塊體樣品進行成分分析到薄膜樣品的成分與厚度同時進行分析與測量。