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二手測厚儀
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調(diào)整、可自行設(shè)計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個可選準(zhǔn)直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機型。測量精度：誤差控制在±5%.
范圍：
適用于本公司品質(zhì)部物理實驗室X-ray測厚儀。
3.0 X-ray測厚儀操作要求及規(guī)范
3.1測試環(huán)境：溫度22±3℃，濕度60±15%。
3.2開機：打開測試主機、電腦、顯示器，打印機電源。
3.3進入Windows XP系統(tǒng)，雙擊Xray圖標(biāo)，此時輸入設(shè)定的密碼。
3.4升壓：待機器完成初始化（既工作臺上下移動一周）后，待機30分鐘，可進行下一步操作。
波譜校準(zhǔn): 每日必做，作用在于讓儀器進行自我補償調(diào)整。首先點擊工具欄中系統(tǒng)調(diào)校圖標(biāo) ，然后將系統(tǒng)調(diào)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)片放入儀器移至十字線中間，對焦，測量（按START鍵）。待儀器自動完成*步，第二步至zui后一步。此時對話框自動關(guān)閉，系統(tǒng)調(diào)校成功。若不成功，檢查是否做錯，重做一次也失敗的話請致電儀器服務(wù)商。