陶瓷介電常數(shù)介質損耗儀

陶瓷介電常數(shù)介質損耗儀

一.儀器的特點：

1.優(yōu)化的測試電路設計使殘值更小

2.高頻信號采用數(shù)碼調諧器和頻率鎖定技術

3.LED 數(shù)字讀出品質因數(shù)，手動/自動量程切換

4.自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設置和鎖定，大大提高測試速度

二.作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz。

1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7 計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

8.標準配置：

1）高配Q表 一只  2）試驗電極  一只 （c類）3）電感      一套（9只）4）電源線    一條5）說明書    一份合格證  6）  一份保修卡    一份

三.電離損耗（又稱游離損耗）是由氣體引起的，含有氣孔的固體介質在外加電場強度超過氣孔氣體電離所需要的電場強度時，由于氣體的電離吸收能量而造成指耗，這種損耗稱為電離損耗。

四.結構損耗

1.在高頻電場和低溫下，有一類與介質內鄰結構的緊密度密切相關的介質損耗稱為結構損耗。

2.試驗表明結構緊密的晶體成玻璃體的結構損耗都很小，但是當某此原因使它的內部結構松散后。

3.結構耗就會大大升高。

五.宏觀結構不均勾性的介質損耗

1. 工程介質材料大多數(shù)是不均勻介質。(例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和氣相，各相在介質中是統(tǒng)計分布口。

2. 由于各相的介電性不同，有可能在兩相間積聚了較多的自由電荷使介質的電場分布不均勻，造成局部有較高的電場強度而引起了較高的損耗.