德科特思EIGER2 R CdTe光子計數X射線探測器

1、產品特點：    

     EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數探測器的新發(fā)展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設置時， EIGER2 R CdTe 1M 是好的選擇。

    DECTRIS 公司的即時觸發(fā)技術使他們具有高計數率能力，可以更好地測量實驗室X射線源 所能達到的高強度。DECTRIS 公司的即時觸發(fā)的技術使 EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有好的高計 數率能力，可以更快速地測量實驗室 X 射線光源所能達到的高強度。EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有兩個能 量閾值，所以與上一代探測器相比，它在環(huán)境背景下擁有更低的暗電流和背景噪音。這大大提高了弱信號和長 時間曝光的信噪比，使得它在更短的測量時間下就能獲得更好的數據質量。單光子計數與計數器連續(xù)讀/寫技術 相結合，克服了傳統(tǒng)積分探測器容易飽和以及動態(tài)范圍有限的問題。此外，感光像素直接將X射線轉化為電信號 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探測器具有更高的空間和角度分辨率。

2、核心優(yōu)勢：

     – 高的量子效率、更短的測試時間和更高質量的數據

      – 即時觸發(fā)技術使得計數率大幅度提高

      – 雙能閾值，可用于低背景和高背景的抑制

      – 無讀出噪音和暗電流，確保了好的信噪比

      – 計數器具有同時讀/寫功能，確保了高動態(tài)范圍和無飽和的圖像

3、應用領域：

      - 大分子晶體學（MX）；

      - 化學結晶學；

      - 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；

      - μCT；

      - 其它；

德科特思EIGER2 R CdTe光子計數X射線探測器  

4、技術參數：

EIGER2 R CdTe混合像素光子計數X射線探測器