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近日，重慶市科學(xué)技術(shù)局發(fā)布四批科研項(xiàng)目計(jì)劃。[詳細(xì)]
X射線熒光光譜儀設(shè)備中標(biāo)結(jié)果公告
2023年07月10日 12:00:51
來源：機(jī)電產(chǎn)品招標(biāo)投標(biāo)電子交易平臺(tái) 點(diǎn)擊量：5634
項(xiàng)目名稱：北京懷柔實(shí)驗(yàn)室2023年第四批科研設(shè)備采購(gòu)項(xiàng)目，項(xiàng)目編號(hào)：1495-234thhrlab04/06，招標(biāo)范圍：產(chǎn)品名稱：X射線熒光光譜儀設(shè)備 數(shù)量：1臺(tái) 簡(jiǎn)要技術(shù)規(guī)格：X射線熒光光譜儀(XRF)是一種半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備，具體規(guī)格如下： 1）用于硅片表面金屬厚度檢測(cè)，具備對(duì)多種金屬材料如Al、Ni、Ti、Ag等及其合金的膜厚進(jìn)行非破壞性測(cè)試功能； 2）Al元素測(cè)試限：0.01~15μm； 3）
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項(xiàng)目名稱：北京懷柔實(shí)驗(yàn)室2023年第四批科研設(shè)備采購(gòu)項(xiàng)目
項(xiàng)目編號(hào)：1495-234thhrlab04/06
招標(biāo)范圍：產(chǎn)品名稱：X射線熒光光譜儀設(shè)備 數(shù)量：1臺(tái) 簡(jiǎn)要技術(shù)規(guī)格：X射線熒光光譜儀(XRF)是一種半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備，具體規(guī)格如下： 1)用于硅片表面金屬厚度檢測(cè)，具備對(duì)多種金屬材料如Al、Ni、Ti、Ag等及其合金的膜厚進(jìn)行非破壞性測(cè)試功能； 2)Al元素測(cè)試限：0.01~15μm； 3)Au元素測(cè)試限：0.005~10μm； 4)Ag元素測(cè)試限：0.005~4μm； 5)測(cè)厚精度：RSD<5%； 6)X射線光斑尺寸：≤35μm； 7)適用于6、8英寸晶圓。
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：天恒招標(biāo)有限公司
招標(biāo)人：北京懷柔實(shí)驗(yàn)室
開標(biāo)時(shí)間：2023-06-30 09:30
公示時(shí)間：2023-07-03 17:14 - 2023-07-06 23:59
中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間：2023-07-07 14:34
中標(biāo)人：瑞德儀實(shí)業(yè)有限公司
制造商：BOWMAN Analytics,Inc.
制造商國(guó)家或地區(qū)：美國(guó)
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