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3當(dāng)前位置：賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示
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當(dāng)前位置：賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示
2024
03-012024
01-312024
01-31利用iDPC-STEM技術(shù)實(shí)現(xiàn)鈣鈦礦材料熱致相變過(guò)程的原子級(jí)原位表征
金屬鹵化物鈣鈦礦材料在光電相關(guān)領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用前景。而在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，伴隨著材料優(yōu)異性能，材料的穩(wěn)定性問題成為了制約其發(fā)展和應(yīng)用的重要因素。由于鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的可調(diào)性和復(fù)雜性，從原子級(jí)尺度研究其穩(wěn)定性的結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)成為了新的挑戰(zhàn)，而鈣鈦礦的相變就是其結(jié)構(gòu)演化過(guò)程中的重要問題。然而，金屬鹵化物鈣鈦礦材料是典型的電子敏感材料。要實(shí)現(xiàn)對(duì)鈣鈦礦相變過(guò)程的原子級(jí)原位觀察，需要我們將低劑量成像技術(shù)和原位技術(shù)緊密結(jié)合起來(lái)，其中仍有諸多難點(diǎn)。一方面，連續(xù)拍攝過(guò)程中的電子劑量累積，使得我們?cè)趩未闻臄z的電子劑量要遠(yuǎn)2024
01-03FEI場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生高分辨率和材料對(duì)比度
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種高分辨率、高性能的電子顯微鏡，具有超高分辨率和強(qiáng)大的圖像處理能力。它利用場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生電子束，通過(guò)電子束在樣品表面掃描，收集并處理二次電子信號(hào)，以獲取樣品表面的顯微圖像。Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的平臺(tái)，而不會(huì)降低磁性樣品性能。傳統(tǒng)的高分辨率SEM透鏡技術(shù)分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI將兩種技術(shù)結(jié)合到一個(gè)儀器中。這樣做所產(chǎn)生的成效遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)任一種鏡筒的個(gè)體性能。兩種技術(shù)均使電子束形成細(xì)小探針，以提高低電壓下的分辨率，并使信號(hào)電子2023
12-252023
12-13古羅馬神Janus帶來(lái)的科學(xué)靈感：雙層石墨烯增強(qiáng)銅抗腐蝕性能
這個(gè)長(zhǎng)得像奧利奧的圓餅，其實(shí)已經(jīng)有兩千一百多年的歷史。它是古羅馬共和國(guó)早期的銀幣。銀幣表面，依稀可以看到兩張面孔，祂就是兩面神雅努斯（Janus）。在神話中，Janus守護(hù)著天門，早晨打開天門，讓陽(yáng)光普照人間，晚上又把天門關(guān)上，使黑暗降臨大地。祂的兩張面孔一張看著過(guò)去，一張看著未來(lái)，代表著無(wú)限的時(shí)間。西方的神話往往充滿著哲學(xué)的思辨精神，即便在今天，這種特殊的結(jié)構(gòu)帶給人們無(wú)限啟發(fā)，其中所蘊(yùn)含的“辯證統(tǒng)一”哲理與中國(guó)古代哲學(xué)的“陰陽(yáng)合一”思想相得益彰，成為科學(xué)家靈感迸發(fā)的焦點(diǎn)。圖1古羅馬神Janus2023
12-08透射電子顯微鏡可用于觀察亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)
透射電子顯微鏡（TEM）是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射的顯微鏡。它主要用于觀察光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。為了清晰地觀察到這些構(gòu)造，需要選用較短波長(zhǎng)光源來(lái)提高顯微鏡分辨率。透射電子顯微鏡的工作原理是利用經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。樣品厚度通常在幾十到幾百納米，這個(gè)厚度對(duì)電子的散射角度影響較小，因此可以認(rèn)為2023
11-09為什么說(shuō)環(huán)境掃描電鏡是一種“特殊”的掃描電鏡？
環(huán)境掃描電鏡（ESEM）是一種特殊的掃描電鏡，可以在自然狀態(tài)（非真空狀態(tài)）下對(duì)樣品進(jìn)行成像。原理是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生多種物理信號(hào)，如二次電子、背散射電子等，從而獲取樣品的形貌、成分等信息。相比傳統(tǒng)的掃描電鏡，ESEM可以在較低的真空狀態(tài)下工作，甚至可以在水汽或其他氣體環(huán)境中工作，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)非導(dǎo)電、非導(dǎo)熱樣品的直接成像。環(huán)境掃描電鏡的主要特點(diǎn)：1、動(dòng)態(tài)原位實(shí)驗(yàn)對(duì)自然狀態(tài)下的材料進(jìn)行原位研究：具有環(huán)境模式的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(ESEM)。原位分析的溫度范圍為-165°C至1400°C，搭2023
11-082023
11-082023
11-03Cryo-FIB結(jié)合iDPC技術(shù)實(shí)現(xiàn)COF@MOF兩相界面處精細(xì)結(jié)構(gòu)的表征
金屬有機(jī)骨架(MOF)材料和共價(jià)有機(jī)骨架材料（COF）因其靈活的可設(shè)計(jì)性及結(jié)構(gòu)的多樣性，受到研究者們的高度關(guān)注。以MOF晶體為核，COF為殼，通過(guò)核-殼結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)合成，有望顯著提升復(fù)合材料的結(jié)構(gòu)/水穩(wěn)定性，界面相容性、吸/脫附動(dòng)力學(xué)等性能。然而MOF材料的在電子束作用下極易坍塌失去晶體結(jié)構(gòu)，同時(shí)MOF和COF的結(jié)構(gòu)中都包含大量的輕質(zhì)元素，傳統(tǒng)的成像方式難以提供具有完整結(jié)構(gòu)信息的高信噪比圖像。雖然透射電子顯微技術(shù)是表征界面結(jié)構(gòu)的最重要手段，MOF和COF的界面結(jié)構(gòu)圖像依然難以獲得。主要的原因包含兩2023
11-03X射線光電子能譜—掃描電鏡聯(lián)用表征技術(shù)最新進(jìn)展
科學(xué)技術(shù)在不斷的蓬勃發(fā)展，日新月異的創(chuàng)新不僅改變著我們的生活方式，也推動(dòng)著樣品分析表征領(lǐng)域的進(jìn)步與探索。目前，在樣品分析表征中，仍然存在著多項(xiàng)挑戰(zhàn)：01對(duì)樣品的全面了解通常需要使用不同的儀器進(jìn)行分析掃描電子顯微鏡（SEM）：提供高空間分辨的樣品表面形貌圖像，利用配套的X射線能譜分析EDS獲取成分信息。然而，EDS的檢測(cè)深度較深（得到體相信息），存在化學(xué)分辨能力不足、對(duì)輕元素的測(cè)試不準(zhǔn)確等問題，無(wú)法揭示對(duì)理解材料性能至關(guān)重要的表面化學(xué)成分。X射線光電子能譜（XPS）：檢測(cè)深度非常淺（得到表面信息）2023
11-02如何選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡以滿足實(shí)驗(yàn)需求？
選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡以滿足實(shí)驗(yàn)需求需要考慮以下幾個(gè)因素：1、分辨率：分辨率是鎢燈絲掃描電鏡最重要的參數(shù)之一，它決定了圖像的清晰度和細(xì)節(jié)。一般來(lái)說(shuō)，分辨率越高，圖像越清晰。因此，根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求選擇具有足夠分辨率的SEM是至關(guān)重要的。2、放大倍數(shù)范圍：不同的實(shí)驗(yàn)可能需要不同的放大倍數(shù)范圍。因此，在選擇SEM時(shí)，需要確保其能夠提供所需的放大倍數(shù)范圍。一般來(lái)說(shuō)，SEM的放大倍數(shù)范圍可以從幾倍到幾十萬(wàn)倍不等。3、樣品類型：不同類型的樣品可能需要不同的SEM配置。例如，對(duì)于非導(dǎo)電樣品，需要使用低真空SEM2023
10-142023
10-08sem掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用有哪些？
sem掃描電鏡是一種常用的材料科學(xué)工具，具有高分辨率和表面成像能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)研究領(lǐng)域。以下是sem掃描電鏡在材料科學(xué)中的主要應(yīng)用：1、表面形貌觀察：可以提供高分辨率的表面形貌圖像，用于觀察材料的表面紋理、結(jié)構(gòu)和形貌特征。這對(duì)于分析材料的粗糙度、晶粒形貌、表面缺陷以及其他與材料性質(zhì)相關(guān)的表面特征非常重要。2、微觀組織分析：可以觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)，例如晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和形狀等。通過(guò)SEM的能量散射譜(EDS)功能，還可以進(jìn)行元素定性和定量分析，了解材料的化學(xué)成分和分布情況。3、界面和界面2023
10-07賽默飛 Helios 5 聚焦離子束掃描電子顯微鏡可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料
聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FocusedIonBeam-ScanningElectronMicroscope，簡(jiǎn)稱FIB-SEM）是一種復(fù)合分析儀器，它結(jié)合了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）的功能。賽默飛Helios5聚焦離子束掃描電子顯微鏡可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。1、它集成了SEM鏡筒（用于超高分辨率成像和先進(jìn)的分析能力）、等離子FIB鏡筒（可在所有操作條件下實(shí)現(xiàn)最佳性能）以及飛秒激光，可實(shí)現(xiàn)以從前無(wú)法通過(guò)商業(yè)化產(chǎn)品獲得的速率進(jìn)行原位材料刻蝕。2、它加快2023
09-072023
09-05Fei冷凍透射電鏡有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)？
Fei冷凍透射電鏡是指Fei公司生產(chǎn)的冷凍透射電子顯微鏡（Cryo-EM）。Cryo-EM是一種用于研究生物大分子復(fù)合體、膜蛋白復(fù)合體和病毒等的亞納米分辨率三維結(jié)構(gòu)的電子顯微技術(shù)。Fei冷凍透射電鏡具有高穩(wěn)定性和高分辨率，其配備了高穩(wěn)定性的場(chǎng)發(fā)射電子槍和三級(jí)聚光鏡照明系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)寬范圍連續(xù)可調(diào)的平行光照明。此外，F(xiàn)ei冷凍透射電鏡配備了革命性的冷凍技術(shù)，可以一次裝入最多達(dá)12個(gè)樣品，并連續(xù)自動(dòng)使樣品處于液氮溫度。該儀器適用于低溫單顆粒三維重構(gòu)、低溫蛋白質(zhì)電子晶體學(xué)和低溫電子斷層三維成像等三種研究2023
09-01fei透射電子顯微鏡樣品制備技術(shù)和注意事項(xiàng)
fei透射電子顯微鏡是一種強(qiáng)大的工具，用于研究物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。樣品制備是TEM中至關(guān)重要的步驟之一，以下是關(guān)于fei透射電子顯微鏡樣品制備技術(shù)和注意事項(xiàng)的一些建議。1、樣品選擇：選擇適合觀察的樣品非常重要。典型的TEM樣品包括金屬、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。確保樣品尺寸小于TEM的限制分辨率，通常在納米至亞納米尺度范圍內(nèi)。2、樣品切片：大多數(shù)樣品需要進(jìn)行切片以獲得透明的樣品，這可以通過(guò)機(jī)械或離子切割來(lái)實(shí)現(xiàn)。機(jī)械切割使用鉆磨機(jī)和超聲波切割機(jī)，而離子切割則使用離子束薄化儀。切割時(shí)需要小2023
08-14冷凍透射電子顯微鏡在生物學(xué)研究中的應(yīng)用介紹
冷凍透射電子顯微鏡是一種先進(jìn)的生物學(xué)研究工具，可以通過(guò)高分辨率成像技術(shù)對(duì)生物樣品進(jìn)行觀察和分析。以下是冷凍透射電子顯微鏡在生物學(xué)研究中的主要應(yīng)用：1、蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)解析：它已經(jīng)成為研究蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)的重要工具之一。它可以直接觀察到生物樣品中的蛋白質(zhì)分子，幫助研究人員揭示其精確的三維結(jié)構(gòu)和功能機(jī)制。通過(guò)使用，科學(xué)家們已經(jīng)解析了許多復(fù)雜蛋白質(zhì)的結(jié)構(gòu)，包括酶、離子通道、受體等，這些結(jié)構(gòu)信息對(duì)于藥物設(shè)計(jì)和疾病治療具有重要意義。2、大分子復(fù)合物研究：可用于研究大分子復(fù)合物的結(jié)構(gòu)和組裝方式。許多重要的生物過(guò)程依賴于掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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