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賽默飛電子顯微鏡

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當(dāng)前位置:賽默飛電子顯微鏡>>技術(shù)文章展示

  • 2024

    12-02

    fei冷凍透射電鏡在生物樣品成像中的優(yōu)勢(shì)

    fei冷凍透射電鏡是一種在超低溫條件下對(duì)樣品進(jìn)行成像的技術(shù),主要用于觀察和分析生物樣品,為科學(xué)家們提供了深入了解物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的機(jī)會(huì)。以下是fei冷凍透射電鏡在生物樣品成像中的主要優(yōu)勢(shì):1、更接近天然狀態(tài):通過(guò)將樣品迅速冷凍,使其在接近生理狀態(tài)下被固定,從而能夠觀察生物分子和細(xì)胞結(jié)構(gòu)在自然狀態(tài)下的形態(tài)和功能。這種方法減少了樣品制備過(guò)程中可能引起的形變和損傷,使得研究結(jié)果更加可靠。2、高分辨率成像:能夠提供原子級(jí)別的分辨率,這對(duì)于解析生物大分子的三維結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。例如,通過(guò)使用,科學(xué)家們已經(jīng)成功解析
  • 2024

    11-09

    通過(guò)研究硬骨魚(yú)的智力來(lái)揭示大腦進(jìn)化

    不同動(dòng)物的高階腦功能曾經(jīng),高階智力被認(rèn)為是靈長(zhǎng)類(lèi)動(dòng)物獨(dú)有的,這是通過(guò)一些復(fù)雜的認(rèn)知功能,如使用先進(jìn)的工具和自我識(shí)別來(lái)確定的。然而,這些智力特征已經(jīng)在除了哺乳動(dòng)物之外的許多其他種類(lèi)動(dòng)物身上被發(fā)現(xiàn)。值得注意的是,鴉科動(dòng)物和鸚鵡表現(xiàn)出了高度先進(jìn)的行為,包括使用創(chuàng)造性的工具,這些需要結(jié)合復(fù)雜的推理、計(jì)劃和精細(xì)協(xié)作技能。高級(jí)腦功能的發(fā)展伴隨著相對(duì)腦質(zhì)量的增強(qiáng),稱(chēng)為腦化。在靈長(zhǎng)類(lèi)動(dòng)物中,與其他哺乳動(dòng)物相比,相當(dāng)于大腦皮層的大小增加了。人們很自然地認(rèn)為,鳥(niǎo)類(lèi)的智力也會(huì)以同樣的方式增長(zhǎng),但相反,研究發(fā)現(xiàn)它們的蒼
  • 2024

    11-09

    未來(lái)已來(lái)丨一窺電子顯微鏡如何影響AI算力提升

    早在2022年,OpenAI發(fā)布基于大語(yǔ)言模型的ChatGPT,就轟動(dòng)全球,自此之后,各類(lèi)AI大模型如同雨后春筍般涌現(xiàn)。訓(xùn)練這些大模型需要阿伏伽德羅常數(shù)級(jí)的算力,以訓(xùn)練GPT-4為例,需要215億petaFLOP,1peta是10的15次方,即2.15x1025次浮點(diǎn)運(yùn)算。阿伏伽德羅常數(shù)只有6.02x1023。為了滿足對(duì)芯片算力的需求,邏輯芯片的線寬不斷縮小,器件結(jié)構(gòu)更加復(fù)雜。從平面柵到鰭柵(FinFET),再到全環(huán)繞柵(GAA)。NVIDIAH100芯片就是廣泛應(yīng)用的AI訓(xùn)練芯片的產(chǎn)品,其先進(jìn)
  • 2024

    11-07

    fei雙束電子顯微鏡的基本工作原理

    fei雙束電子顯微鏡是一種結(jié)合了離子束和掃描電子顯微鏡的先進(jìn)成像技術(shù)。它利用離子束和電子束來(lái)對(duì)樣品進(jìn)行成像和加工,具有高分辨率、高靈敏度和高精度的優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。fei雙束電子顯微鏡的基本工作原理如下:1、離子束制備樣品表面:離子束主要用于樣品表面的加工和預(yù)處理。離子束可以清除樣品表面的氧化層或有機(jī)物,裸露出純凈的樣品表面。離子束還可以進(jìn)行局部蝕刻、切割、沉積等加工操作,為后續(xù)的電子顯微鏡成像提供高質(zhì)量的樣品表面。2、電子束成像樣品表面:在樣品表面經(jīng)過(guò)離子束處理
  • 2024

    11-01

    sem掃描電子顯微鏡的主要組成部分

    sem掃描電子顯微鏡是一種高分辨率電子顯微鏡,它利用聚焦的電子束來(lái)掃描樣品表面并產(chǎn)生高分辨率的圖像。它的主要組成部分包括電子源、電子光學(xué)系統(tǒng)、樣品臺(tái)、探測(cè)器和顯示和控制系統(tǒng)。1、電子源:sem掃描電子顯微鏡的電子源通常是熱發(fā)射陰極,通過(guò)加熱陰極產(chǎn)生高能量的電子束。這些電子束經(jīng)過(guò)加速管和減速管后,被聚焦成一個(gè)細(xì)小的束以掃描樣品表面。2、電子光學(xué)系統(tǒng):電子光學(xué)系統(tǒng)包括透鏡、光柵和掃描線圈等部件,用于將電子束聚焦到樣品表面并進(jìn)行掃描。透鏡可以調(diào)節(jié)電子束的焦距,光柵用于調(diào)節(jié)電子束的強(qiáng)度和方向,掃描線圈則
  • 2024

    10-23

    比較SEM掃描電鏡與光學(xué)顯微鏡在景深、放大倍數(shù)和分辨率方面的差異

    SEM掃描電鏡與光學(xué)顯微鏡在景深、放大倍數(shù)和分辨率方面存在顯著的差異,這些差異使得它們各自在特定的科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域中發(fā)揮著不可替代的作用。首先,從景深的角度來(lái)看,光學(xué)顯微鏡的景深相對(duì)較淺,通常在2-3um之間。這意味著在觀察樣品時(shí),只有很薄的一層樣品表面能形成清晰的圖像,對(duì)樣品的表面平滑度要求很高。而SEM掃描電鏡的景深則要大得多,可以達(dá)到幾毫米。這一特性使得SEM能夠觀察樣品表面不同深度的形態(tài)結(jié)構(gòu),對(duì)樣品表面的幾何形狀和光滑程度要求較低,樣品的準(zhǔn)備也相對(duì)簡(jiǎn)單。其次,在放大倍數(shù)方面,光學(xué)顯
  • 2024

    10-23

    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的使用與維護(hù)

    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FieldEmissionScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱(chēng)FESEM)是一種高性能的電子顯微鏡,以其超高分辨率和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域而著稱(chēng)。以下是對(duì)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的詳細(xì)介紹:一、基本原理FESEM利用場(chǎng)發(fā)射電子槍作為電子源,通過(guò)電子束的精細(xì)聚焦和光柵式掃描方式,將電子束照射到樣品表面。電子與樣品相互作用后,產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào),這些信號(hào)被收集并處理成顯微形貌的放大圖像。FESEM通過(guò)調(diào)節(jié)電子束的加速電壓、束流和掃描范圍等參數(shù),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣
  • 2024

    10-23

    fei掃描透射電子顯微鏡:高分辨率分析儀器

    FEI掃描透射電子顯微鏡(ScanningTransmissionElectronMicroscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)STEM)是一種集成了掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)功能的高分辨率分析儀器。這種顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,其成像和分析能力使其成為研究微觀世界的重要工具。FEI掃描透射電子顯微鏡利用場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高亮度的電子束,并通過(guò)一系列精密的透鏡系統(tǒng)將其聚焦到極小的尺寸。這些電子束在樣品表面進(jìn)行掃描時(shí),會(huì)與樣品內(nèi)部的原子和分子發(fā)生相互作用,產(chǎn)生包括散
  • 2024

    10-23

    SEM掃描電鏡中,如何保證圖像的高分辨率和高質(zhì)量?

    在SEM掃描電鏡中,保證圖像的高分辨率和高質(zhì)量是實(shí)驗(yàn)成功的關(guān)鍵。以下是一些關(guān)鍵步驟和注意事項(xiàng),以確保獲得高質(zhì)量的圖像:1.選擇合適的加速電壓加速電壓決定了電子束的能量和穿透能力。較低的加速電壓(如1-5kV)通常適用于高分辨率的表面成像,因?yàn)樗軠p少電子在樣品中的散射,從而提高表面細(xì)節(jié)的分辨率。然而,對(duì)于較厚的樣品,可能需要較高的加速電壓(如10-30kV)來(lái)穿透樣品并獲取內(nèi)部信息。因此,選擇合適的加速電壓是平衡穿透深度和分辨率的關(guān)鍵。2.優(yōu)化工作距離工作距離是電子束從透鏡到樣品表面的距離。較短
  • 2024

    10-23

    SEM掃描顯微鏡的基本構(gòu)造包括哪些主要部件?

    SEM掃描顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱(chēng)SEM)是一種利用電子束掃描樣品表面,通過(guò)收集和分析電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)觀察樣品表面形貌和進(jìn)行成分分析的現(xiàn)代電子顯微鏡。其基本構(gòu)造主要包括以下幾個(gè)主要部件:1.電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍?zhuān)鹤鳛殡娮邮陌l(fā)射源,常用的有熱場(chǎng)發(fā)射電子槍和冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)鼈兡軌虍a(chǎn)生速度一致、路徑平行的高能電子束。聚光系統(tǒng):包括一系列電磁透鏡,如聚焦透鏡和物透鏡,用于對(duì)電子束進(jìn)行聚焦和調(diào)制,確保電子束能夠精確地照射在樣品表面的微區(qū)上。掃描系統(tǒng)
  • 2024

    10-14

    fei掃描透射電子顯微鏡在環(huán)境科學(xué)中的角色

    fei掃描透射電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡,可以用來(lái)觀察納米尺度以下的物體結(jié)構(gòu)。在環(huán)境科學(xué)中,扮演著重要的角色,可以幫助科研人員研究和理解環(huán)境中微觀結(jié)構(gòu)的特征和性質(zhì)。以下是fei掃描透射電子顯微鏡在環(huán)境科學(xué)中的應(yīng)用和重要性:1、研究納米顆粒:納米顆粒是環(huán)境中的一種微觀顆粒物,具有特殊的物理和化學(xué)性質(zhì)。它可以幫助科研人員觀察和分析這些納米顆粒的形貌、大小、結(jié)構(gòu)和組成,從而深入了解它們的性質(zhì)和行為。2、分析污染物:環(huán)境中存在各種污染物,如重金屬、有機(jī)化合物等。也可以對(duì)這些污染物進(jìn)行高分辨率的觀察
  • 2024

    10-08

    冷凍透射電子顯微鏡在納米技術(shù)中的應(yīng)用

    冷凍透射電子顯微鏡是一種強(qiáng)大的工具,它在納米技術(shù)中發(fā)揮著重要作用。通過(guò)將樣品冷凍在非常低的溫度下,可以提供高分辨率的圖像,揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。這種技術(shù)已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)和納米技術(shù)的研究領(lǐng)域,為研究人員提供了對(duì)納米尺度物質(zhì)行為的見(jiàn)解。冷凍透射電子顯微鏡在納米技術(shù)中的應(yīng)用主要包括以下幾個(gè)方面:1、納米材料結(jié)構(gòu)表征:可以用來(lái)觀察和分析各種納米材料的結(jié)構(gòu),包括納米顆粒、納米管、納米片等。通過(guò)高分辨率的圖像,研究人員可以了解納米材料的形貌、尺寸、形狀和結(jié)構(gòu),從而設(shè)計(jì)和優(yōu)化新型納米材料。2、納米
  • 2024

    09-11

    鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

    鎢燈絲掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面,通過(guò)收集和分析反射電子、透射電子和二次電子等信號(hào),從而獲得樣品表面形貌、組成和結(jié)構(gòu)等信息的顯微鏡。鎢燈絲掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用非常廣泛,主要包括以下幾個(gè)方面:1、材料表面形貌觀察:它可以對(duì)材料的表面形貌進(jìn)行高分辨率的觀察,如金屬、陶瓷、聚合物、復(fù)合材料等。通過(guò)對(duì)材料表面形貌的觀察,可以了解材料的微觀結(jié)構(gòu),為材料的性能優(yōu)化提供依據(jù)。2、材料斷面結(jié)構(gòu)分析:也可以對(duì)材料的斷面結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,如晶體結(jié)構(gòu)、晶界、相界面等。通過(guò)對(duì)材料斷面結(jié)構(gòu)的分析,可以了解材料
  • 2024

    09-08

    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的工作原理

    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種利用高能電子束對(duì)樣品表面進(jìn)行掃描,從而獲得高分辨率的圖像的儀器。其工作原理主要包括以下幾個(gè)步驟:1、電子源:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的電子源通常采用場(chǎng)發(fā)射電子槍。通過(guò)在尖銳的金屬施加高電壓,使得金屬產(chǎn)生強(qiáng)電場(chǎng),從而使金屬內(nèi)部的電子被拉出并加速。這種電子源產(chǎn)生的電子束具有高亮度、高相干性和小能量擴(kuò)散等特點(diǎn),有利于提高分辨率和信號(hào)強(qiáng)度。2、電子透鏡系統(tǒng):從發(fā)出的電子束經(jīng)過(guò)一系列的電磁透鏡和光闌進(jìn)行聚焦和整形,形成直徑約為幾納米的高能電子束。這些透鏡系統(tǒng)包括物鏡、中間透鏡和投影透
  • 2024

    09-05

    sem掃描電鏡中的分辨率是由什么決定的?

    sem掃描電鏡的分辨率是由多個(gè)因素決定的,包括電子束的大小、電子束的能量、樣品的導(dǎo)電性、樣品的厚度、樣品的表面粗糙度等。首先,電子束的大小是影響sem掃描電鏡分辨率的重要因素。電子束越小,分辨率越高。電子束的大小主要由電子槍的類(lèi)型和設(shè)計(jì)決定。目前常用的電子槍有熱發(fā)射電子槍和場(chǎng)發(fā)射電子槍。熱發(fā)射電子槍的分辨率一般在微米級(jí)別,而場(chǎng)發(fā)射電子槍的分辨率可以達(dá)到納米級(jí)別。其次,電子束的能量也會(huì)影響分辨率。電子束的能量越高,其波長(zhǎng)越短,理論上分辨率就越高。但是,過(guò)高的能量會(huì)導(dǎo)致樣品的損傷,因此需要根據(jù)樣品的
  • 2024

    09-02

    fei透射電子顯微鏡在生物科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用

    在生物科學(xué)領(lǐng)域,fei透射電子顯微鏡發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。作為一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器,它能夠提供生物樣品的納米級(jí)微觀內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像,這對(duì)于生物學(xué)的研究具有極大的價(jià)值。以下是fei透射電子顯微鏡在生物科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用:1、微生物學(xué)研究:通過(guò)TEM觀察細(xì)菌、支原體等微生物的超微結(jié)構(gòu)形態(tài),可以研究其結(jié)構(gòu)和生長(zhǎng)發(fā)育,為微生物學(xué)的研究提供重要手段。2、臨床病理診斷:生物體發(fā)生疾病會(huì)導(dǎo)致細(xì)胞發(fā)生形態(tài)和功能上的改變,能夠清晰展現(xiàn)出這些變化,為疾病診斷提供有力的證據(jù)。3、生物大分子復(fù)合體研究:可用于
  • 2024

    08-12

    X射線光電子能譜儀的組成與應(yīng)用

    X射線光電子能譜儀(XPS)是一種高性能的表面分析技術(shù),它能夠提供關(guān)于材料表面元素組成、化學(xué)狀態(tài)和電子結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息。XPS的基本原理是使用X射線照射樣品,當(dāng)X射線光子與樣品中的原子相互作用時(shí),會(huì)激發(fā)原子內(nèi)層電子(如K層或L層電子)成為光電子。這些光電子的動(dòng)能取決于被激發(fā)電子的結(jié)合能、X射線光子的能量以及逸出功。結(jié)合能反映了電子與原子核之間的相互作用強(qiáng)度,因此對(duì)于特定元素的不同化學(xué)狀態(tài),結(jié)合能會(huì)有細(xì)微的差別。通過(guò)測(cè)量這些光電子的動(dòng)能,可以確定樣品表面的元素種類(lèi)及其化學(xué)狀態(tài)。X射線光電子能譜儀主要
  • 2024

    08-11

    冷凍聚焦離子束顯微鏡在細(xì)胞研究中的作用

    冷凍聚焦離子束顯微鏡技術(shù)是一種在低溫條件下使用聚焦離子束對(duì)樣品進(jìn)行加工和成像的方法。這種技術(shù)通常與掃描電子顯微鏡(sem)或透射電子顯微鏡(tem)結(jié)合使用,以研究材料的微觀結(jié)構(gòu)和成分。在細(xì)胞研究中,冷凍聚焦離子束顯微鏡的作用主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:1.樣品制備:傳統(tǒng)的細(xì)胞樣品制備方法可能會(huì)引入人為的形態(tài)變化或化學(xué)固定劑的偽跡,而它可以在接近生理狀態(tài)下快速冷凍固定細(xì)胞,減少樣品制備過(guò)程中的偽跡和損傷。這種方法有助于保持細(xì)胞的原始結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成,為后續(xù)的高分辨率成像提供良好的基礎(chǔ)。2.精確切割:也
  • 2024

    08-09

    知識(shí)大禮包-ChemiSEM助您提升元素分析水平

    更快、更優(yōu)、更加經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的能譜數(shù)據(jù)采集與分析現(xiàn)如今,廣大科研用戶已經(jīng)非常熟悉用掃描電鏡(SEM)搭配能量色散X射線能譜(EDS)用于確定樣品的元素組成。然而,既能制造掃描電鏡又能制造能譜探測(cè)器的儀器廠商少之又少,這使得科研用戶通常采購(gòu)不同廠商的SEM和EDS系統(tǒng)。這在實(shí)際使用過(guò)程中往往帶來(lái)額外的麻煩和困擾。而ChemiSEM的推出則大大減少了這些問(wèn)題。比如:硬件和軟件來(lái)自同一廠商,沒(méi)有軟硬件整合問(wèn)題。同一個(gè)軟件控制掃描電鏡和能譜,無(wú)需在不同的界面之間切換。數(shù)據(jù)同步和下載更容易。只需要處理一個(gè)供應(yīng)
  • 2024

    08-08

    fei雙束電子顯微鏡的分辨率受哪些因素影響?

    fei雙束電子顯微鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡(sem)和聚焦離子束(fib)技術(shù)。這種設(shè)備通常用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、失效分析等領(lǐng)域,能夠進(jìn)行高分辨率成像、精確切割以及樣品制備等操作。fei雙束電子顯微鏡的分辨率受多種因素影響,主要包括以下幾點(diǎn):1、電子光學(xué)系統(tǒng):電子槍的類(lèi)型、電磁透鏡的設(shè)計(jì)和質(zhì)量、電子束的穩(wěn)定性都會(huì)影響最終的圖像分辨率。高質(zhì)量的電子源和先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)可以提供更細(xì)的電子束探針,從而提高分辨率。2、樣品與探測(cè)器之間的相互作用:樣品本身的導(dǎo)電性、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、化學(xué)組成以及樣品室中的真空度都
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