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2025
08-21

掃描透射電子顯微鏡（STEM）的原理與優(yōu)勢
掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的分析工具，其核心原理基于高能電子束與樣品的相互作用及逐點(diǎn)掃描成像機(jī)制。工作原理：STEM通過場發(fā)射電子槍產(chǎn)生高度聚焦的電子束，經(jīng)電磁透鏡系統(tǒng)會聚成原子尺度的電子探針。在掃描線圈控制下，電子探針在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)光柵掃描。當(dāng)電子束穿透樣品時(shí)，與原子發(fā)生彈性/非彈性散射，透射電子或散射電子被樣品下方的探測器接收。例如，環(huán)形暗場（ADF）探測器收集高角度散射電子，其信號強(qiáng)度與原子序數(shù)平方成正比，形成Z襯度圖
2025
08-16

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應(yīng)用
高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中具有極為重要的應(yīng)用價(jià)值。它通過掃描電子束與樣品表面相互作用，提供高分辨率的表面形貌圖像，并能夠獲取樣品的組成、結(jié)構(gòu)及其功能特性。特別是在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)以及生命科學(xué)領(lǐng)域，被廣泛應(yīng)用于觀察細(xì)胞、組織以及微觀生物結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。本文將討論高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應(yīng)用。一、細(xì)胞形態(tài)和表面結(jié)構(gòu)的觀察它能夠詳細(xì)觀察到細(xì)胞的形態(tài)、表面結(jié)構(gòu)以及細(xì)胞間的相互作用。例如，在觀察細(xì)胞表面時(shí)，能夠清晰地揭示細(xì)胞膜的形態(tài)、細(xì)胞突起、微絨毛等微觀結(jié)構(gòu)。此外，還可以用于觀察細(xì)胞分裂過程、凋
2025
08-13

環(huán)境真空掃描電鏡的原理與技術(shù)優(yōu)勢
環(huán)境真空掃描電鏡是一種結(jié)合掃描電子顯微鏡與環(huán)境控制技術(shù)的高分辨率顯微技術(shù)，能夠在較寬的環(huán)境條件下進(jìn)行樣品的觀察和分析，特別適用于在傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡無法有效操作的樣品，如水分較多、有氣體揮發(fā)或是需要特定氣氛的樣品。一、工作原理環(huán)境真空掃描電鏡的核心原理與傳統(tǒng)SEM類似，都是通過掃描電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生信號，并通過這些信號獲取圖像。然而，最大的特點(diǎn)是在掃描過程中，樣品并不需要像傳統(tǒng)SEM一樣在高真空條件下操作，而是可以在一定的氣壓范圍內(nèi)進(jìn)行分析。為了實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，它采用了一個(gè)具有特殊設(shè)計(jì)的環(huán)
2025
08-10

透射掃描電子顯微鏡在納米科學(xué)中的應(yīng)用
透射掃描電子顯微鏡是一種結(jié)合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)的高分辨率顯微技術(shù)。在納米科學(xué)研究中，憑借其超高的分辨率和能夠?qū)悠愤M(jìn)行多層次、多角度分析的能力，成為了重要的實(shí)驗(yàn)工具。本文將探討透射掃描電子顯微鏡在納米科學(xué)中的應(yīng)用。一、納米材料的結(jié)構(gòu)表征納米材料在納米科技中具有重要的應(yīng)用，如納米管、納米顆粒、量子點(diǎn)等。它能夠以很高的分辨率觀察到這些材料的結(jié)構(gòu)、尺寸、形態(tài)和排列。通過使用，可以詳細(xì)了解納米材料的形貌特征、缺陷、晶格結(jié)構(gòu)等，從而為其設(shè)計(jì)與優(yōu)化提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。例如，可以通過觀察碳納米管的
2025
08-07

場發(fā)射電鏡的基本原理與技術(shù)特點(diǎn)
場發(fā)射電鏡是一種應(yīng)用于高分辨率成像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它使用場發(fā)射源作為電子束的發(fā)射源，能夠提供比熱發(fā)射電子槍更高的亮度和更小的電子束斑。一、基本原理場發(fā)射電鏡的工作原理基于場發(fā)射效應(yīng)。在高電場的作用下，電子從金屬表面被“拉出”，并加速形成電子束。電子束在電鏡中經(jīng)過透鏡系統(tǒng)的聚焦后，照射到樣品表面，掃描樣品并與其相互作用，產(chǎn)生二次電子、背散射電子和X射線等信號，這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)化為圖像。其核心優(yōu)勢在于其電子源——場發(fā)射源，通常是冷場發(fā)射發(fā)射。場發(fā)射源：1、
2025
07-21

便攜式合金分析儀的工作原理：XRF與LIBS技術(shù)對比
便攜式合金分析儀的核心技術(shù)以X射線熒光光譜（XRF）與激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）為主，二者在原理、應(yīng)用場景及性能上存在顯著差異。XRF技術(shù)基于元素特征熒光效應(yīng)，通過X射線管發(fā)射高能X射線激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子，外層電子躍遷填補(bǔ)空位時(shí)釋放特定能量的二次X射線（熒光）。探測器捕獲熒光能量后，與內(nèi)置數(shù)據(jù)庫比對實(shí)現(xiàn)元素定性定量分析。該技術(shù)優(yōu)勢在于無損檢測，無需樣品預(yù)處理，檢測范圍覆蓋鈦、釩等21種元素，精度達(dá)0.03%-0.5%。例如，奧林巴斯Axon系列采用硅漂移探測器（SDD）與智能光束技術(shù)，可自動
2025
07-16

FIB雙束電鏡在集成電路失效分析中的應(yīng)用
FIB雙束電鏡是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的復(fù)合型儀器。該儀器在集成電路（IC）失效分析中具有重要的應(yīng)用價(jià)值，能夠?qū)﹄娮釉?nèi)部的結(jié)構(gòu)和失效機(jī)理進(jìn)行深入的研究與分析。集成電路失效分析的核心任務(wù)是確定電路或芯片失效的根本原因，分析過程通常需要對芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入剖析。FIB雙束電鏡在這一過程中提供了許多重要的技術(shù)支持，具體應(yīng)用如下：1、電路故障定位與剖析集成電路的故障通常由微小的物理損傷、連接斷裂、污染或過熱等原因引起。它能夠通過聚焦離子束對芯片進(jìn)行精確切割，暴
2025
07-13

sem掃描電鏡在微觀結(jié)構(gòu)分析中的重要性
sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過探測二次電子或反射電子的信號，生成高分辨率圖像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高的放大倍率、更強(qiáng)的深度景深和更廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，尤其在微觀結(jié)構(gòu)分析中展現(xiàn)出巨大的優(yōu)勢。sem掃描電鏡在微觀結(jié)構(gòu)分析中的重要性，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1、高分辨率與細(xì)節(jié)呈現(xiàn)最大的優(yōu)勢之一是其很高的分辨率，通常能夠達(dá)到納米級別，遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的分辨率。通過掃描電子束，能夠呈現(xiàn)出樣品表面最細(xì)微的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，例如微小的裂紋、孔隙、表面形貌、顆粒的尺寸與形狀等。
2025
07-11

電鏡應(yīng)用|鋼中復(fù)雜氧化物-硫化物-氮化物夾雜物的自動化SEM- EDS分析與相分析案例
熔融鐵幾乎是一種通用溶劑，能夠輕松溶解鉻、鉬和鎢等金屬，從而制造各種有價(jià)值的合金。然而，這一特性也可能是一把雙刃劍，因?yàn)樵趯㈣F煉成鋼的過程中，必須謹(jǐn)慎控制氧、硫和氮等元素。這些輕元素在合金鋼中的溶解度較低，在精煉和熱軋過程中，容易形成不利的反應(yīng)產(chǎn)物（即夾雜物）。這些生成的氧化物、硫化物和氮化物的微小夾雜物無法通過簡單的浮選去除，從而成為最終鋼材的永久組成部分，影響其機(jī)械性能和質(zhì)量。PART01背景簡介生產(chǎn)鋼材的過程中涉及極高的溫度和高度氧化的環(huán)境。高爐-氧氣轉(zhuǎn)爐一體化工藝和電弧爐廢鋼熔化工藝都使
2025
07-10

FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應(yīng)用
FEI掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于納米材料表征的重要工具。由于其高分辨率和精確的圖像能力，在納米尺度材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)以及其他物理化學(xué)性質(zhì)的研究中發(fā)揮了重要作用。下面將詳細(xì)介紹FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應(yīng)用。一、高分辨率表征它利用電子束掃描樣品表面，能夠產(chǎn)生高分辨率的圖像，這對于研究納米材料的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。由于電子束的波長遠(yuǎn)小于可見光，因此能夠清晰地觀察到納米尺度上的細(xì)節(jié)，如單個(gè)納米顆粒、納米管、納米線等。分辨率可以達(dá)到納米級，甚至亞納米級，這使得它能夠清晰地觀察到許多其他表征
2025
07-07

場發(fā)射掃描電鏡的原理與技術(shù)創(chuàng)新
場發(fā)射掃描電鏡是一種利用場發(fā)射技術(shù)來產(chǎn)生高亮度、穩(wěn)定的電子束，用于觀察樣品表面形貌和成分的顯微分析儀器。它是掃描電鏡（SEM）的一種改進(jìn)版本，具有高分辨率、高靈敏度以及高圖像質(zhì)量的優(yōu)勢。一、基本原理場發(fā)射掃描電鏡與傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）原理相似，都是通過電子束掃描樣品表面并獲得二次電子、反射電子和X射線等信號來形成圖像。它使用的是場發(fā)射電子槍而非熱發(fā)射電子槍，這是其主要的區(qū)別。1、場發(fā)射電子槍它采用的是場發(fā)射電子槍（FEG），其原理是利用強(qiáng)電場從非常細(xì)的金屬針尖上拉出電子。這種電子源相比于熱發(fā)
2025
06-25

手持式合金分析儀在金屬制造業(yè)的應(yīng)用與優(yōu)勢
在金屬制造業(yè)中，手持式合金分析儀憑借其快速、準(zhǔn)確、無損的特點(diǎn)，成為的檢測工具。應(yīng)用方面：原材料檢驗(yàn)：在原材料采購和入庫環(huán)節(jié)，手持式合金分析儀能夠快速檢測金屬材料的化學(xué)成分，確保原材料符合生產(chǎn)要求，避免因材料問題導(dǎo)致的生產(chǎn)延誤和成本增加。生產(chǎn)過程監(jiān)控：在生產(chǎn)過程中，該儀器可實(shí)時(shí)監(jiān)控金屬材料的成分變化，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并調(diào)整生產(chǎn)工藝中的偏差，確保產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定。成品檢測：在成品出廠前，手持式合金分析儀可對產(chǎn)品進(jìn)行最終的質(zhì)量檢測，確保產(chǎn)品符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和客戶要求。優(yōu)勢方面：快速檢測：手持式合金分析儀能夠在幾秒內(nèi)完
2025
06-19

便攜式合金分析儀的維護(hù)與保養(yǎng)
便攜式合金分析儀是工業(yè)檢測中常用的設(shè)備，可快速、準(zhǔn)確地分析金屬材料的成分。為確保其性能穩(wěn)定、延長使用壽命，需采取以下維護(hù)與保養(yǎng)措施：1.日常清潔檢測窗口清潔：檢測窗口是分析儀的核心部件，需保持清潔。每次使用后，用柔軟的無塵布輕輕擦拭，去除表面灰塵或污漬。避免使用尖銳物品刮擦，以防損壞窗口。外殼清潔：定期用濕布擦拭分析儀外殼，去除灰塵和污垢。避免使用強(qiáng)酸、強(qiáng)堿或有機(jī)溶劑，防止外殼腐蝕或褪色。2.定期校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)：按照儀器說明書的要求，定期使用標(biāo)準(zhǔn)樣品對分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)，確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。一般
2025
06-14

鎢燈絲掃描電鏡的維護(hù)與保養(yǎng)技巧
鎢燈絲掃描電鏡是用于觀察微觀物體表面及其結(jié)構(gòu)的高精度設(shè)備，其性能與穩(wěn)定性在許多研究領(lǐng)域中至關(guān)重要。鎢燈絲作為電子槍的核心組件，其質(zhì)量和使用狀態(tài)直接影響其工作效率和圖像質(zhì)量。因此，正確的維護(hù)與保養(yǎng)尤為重要，下面是一些鎢燈絲掃描電鏡的維護(hù)與保養(yǎng)技巧。1、保持清潔環(huán)境工作時(shí)，電子槍會發(fā)射高能電子束，因此設(shè)備的清潔環(huán)境至關(guān)重要。為避免灰塵和污垢積聚，必須保持實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的清潔度。應(yīng)置于通風(fēng)良好、濕度適中的房間，避免高溫、潮濕或過于干燥的環(huán)境，這些因素可能導(dǎo)致鎢燈絲的提前老化。定期清理設(shè)備外部，確保沒有灰塵
2025
06-11

賽默飛掃描電鏡的技術(shù)原理與應(yīng)用解析
賽默飛掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并通過分析反射電子來獲取表面形貌、成分以及微觀結(jié)構(gòu)信息的顯微鏡技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。一、技術(shù)原理賽默飛掃描電鏡的工作原理基于電子束與樣品相互作用的物理過程。當(dāng)電子束打到樣品表面時(shí)，樣品會發(fā)生多種反應(yīng)，包括彈性散射、非彈性散射、二次電子的發(fā)射、X射線的發(fā)射等。通過收集這些反射或發(fā)射的信號，能夠提供高分辨率的表面形貌和元素組成信息。二、應(yīng)用領(lǐng)域賽默飛掃描電鏡在許多領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，特別是在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)等方面。
2025
06-08

賽默飛電子顯微鏡的工作原理與技術(shù)優(yōu)勢
賽默飛電子顯微鏡是一種利用電子束代替光束進(jìn)行成像的顯微儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。它采用電子束通過物質(zhì)樣品來觀察和分析樣品的微觀結(jié)構(gòu)、組成及其性能。一、工作原理賽默飛電子顯微鏡利用加速后的電子束與樣品相互作用，通過檢測與樣品發(fā)生相互作用的電子信號來形成圖像。其核心組件包括電子槍、透射電鏡或掃描電鏡系統(tǒng)、探測器等。1、電子束源：使用電子槍產(chǎn)生電子束，通常采用場發(fā)射電子槍，這種電子槍能夠產(chǎn)生更穩(wěn)定、更集中的電子束。2、樣品準(zhǔn)備與掃描：當(dāng)電子束聚焦在樣品表面時(shí)，電子與樣品
2025
06-05

掃描電鏡顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
掃描電鏡顯微鏡是一種能夠利用電子束掃描樣品表面并獲取其形貌、成分、結(jié)構(gòu)等信息的高分辨率顯微鏡。廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域，尤其在研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、表面特性、成分分布等方面，具有不可替代的優(yōu)勢。掃描電鏡顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用，主要包括以下幾個(gè)方面：1、材料表面形貌的觀察主要的應(yīng)用是在材料的表面形貌研究中。通過高能電子束掃描樣品表面，能夠提供高分辨率的圖像，揭示出材料表面微細(xì)結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。無論是金屬材料、陶瓷、聚合物還是復(fù)合材料，都能有效展示材料表面的粗糙度、孔隙、裂紋、腐蝕等表面特征。2、材料的微觀
2025
04-09

SEM掃描電鏡有什么應(yīng)用？
SEM掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。該設(shè)備是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM掃描電鏡的分辨率可以達(dá)到納米級別，甚至在一些先進(jìn)的設(shè)備中可以達(dá)到亞納米級別，能夠清晰地觀察到樣品表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)和形貌特征。具有良好的景深，可以展示樣品的立體結(jié)構(gòu)，便于理解樣品的形貌。SEM掃描電鏡憑借其高分辨率和多功能性，在眾多領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用：1、材料科學(xué)：用于研究材料的微
2025
03-12

FIB雙束掃描電鏡的工作原理來了解下！
FIB雙束掃描電鏡通過結(jié)合氣體沉積裝置、納米操縱儀、多種探測器和可控樣品臺等附件，實(shí)現(xiàn)了微區(qū)成像、加工、分析和操縱的一體化，在物理、化學(xué)、生物、新材料、農(nóng)業(yè)、環(huán)境和能源等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。工作原理：高能離子束與樣品表面原子碰撞，導(dǎo)致樣品表面原子被濺射出來，實(shí)現(xiàn)材料的微區(qū)去除或刻蝕。通過調(diào)節(jié)離子束的能量和束流，可以控制刻蝕的深度和精度。利用離子束分解金屬有機(jī)氣體化合物，在樣品表面形成薄膜或結(jié)構(gòu)，用于樣品保護(hù)、電路修復(fù)等。SEM電子束照射樣品表面，激發(fā)二次電子等信號，通過探測器收集成像，用于定
2025
03-12

電鏡應(yīng)用|鋰離子電池正極材料的改性研究（一）LiFePO4的結(jié)構(gòu)特征及制備方法
隨著電動汽車市場的不斷發(fā)展，鋰離子電池作為電動汽車的主要?jiǎng)恿υ词艿皆絹碓蕉嗟年P(guān)注。在鋰離子電池中，正極材料是決定電池性能的關(guān)鍵因素之一。LiFePO4作為一種新型正極材料具有諸多優(yōu)點(diǎn)，如高安全性、高能量密度、低成本等，近年來得到了越來越多的研究。然而為了充分發(fā)揮其優(yōu)勢，針對LiFePO4的改性研究也日益重要。PART01LiFePO4的結(jié)構(gòu)特征LiFePO4具備橄欖石晶體結(jié)構(gòu)，理論容量為170mAh/g，有相對鋰金屬負(fù)極的穩(wěn)定放電平臺3.4V，具有資源豐富、價(jià)格便宜、無吸濕性、無毒、環(huán)境友好等優(yōu)

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