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2018
08-14

X熒光光譜儀的優(yōu)勢及在RoHS檢測上的應用
X熒光光譜儀的優(yōu)勢1、分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。4、X射線熒光
2018
07-27

美國熱電元素燈的原理與特征描述
美國熱電元素燈的原理與特征描述美國熱電元素燈即空心陰極燈，是同一個陽極（鎢棒）和呈空心杯形的陰極組成，它是由被測元素的純金屬制成，將陰極和陽極低壓密封于充有惰性氣體的玻璃管中。美國熱電元素燈是一種特殊形式的低壓氣體放電光源，放電集中于陰極空腔內。當在兩極之間施加200V-500V電壓時，便產(chǎn)生光放電。在電場作用下，電子在飛向陽極的途中，與載氣原子碰撞并使之電離，放出二次電子，使電子與正離子數(shù)目增加，以維持放電。正離子從電場獲得動能。如果正離子的動能足以克服金屬陰極表面的晶格能，當其撞擊在陰極表面
2018
07-27

光譜的發(fā)展歷程
人類觀察到的光譜現(xiàn)象，一是彩虹，另一個是極光。對可見光譜所作的科學研究是1666年牛頓的色散實驗，這是人類早對光譜的研究。牛頓的色散實驗看到的是一條彩色光帶，并未觀察到光譜譜線。直到136年之后(1802年)，英國科學家沃拉斯頓(1766～1828)才采用了窄的狹縫發(fā)現(xiàn)太陽光譜中的7條暗線，但并未深入研究，錯誤認為是顏色的分界線。1、夫瑯和費譜線的發(fā)現(xiàn)德國物理學家夫瑯和費(1787～1826)，也采用了狹縫，在研究玻璃對各種顏色光發(fā)折射率時偶然發(fā)現(xiàn)了燈光光譜中的橙色雙線；1814年，發(fā)現(xiàn)太陽光譜
2018
07-23

原子吸收光譜儀的基本原理
1、原子吸收光譜的產(chǎn)生*，任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態(tài)。能量**的能級狀態(tài)稱為基態(tài)能級(E0=0)，其余能級稱為激發(fā)態(tài)能級，而能**的激發(fā)態(tài)則稱為激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量**的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級之間的能級差?E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應的激發(fā)態(tài)
2018
07-16

X射線熒光光譜儀制樣要求
X射線熒光光譜儀制樣要求：樣品的尺寸(直徑x高)50x40mm，重量400g。1、定量分析定量分析是對樣品中元素進行準確定量測定。定量分析需要一組標準樣品做參考。常規(guī)定量分析一般需要5個以上的標準樣品才能建立較可靠的工作曲線。常規(guī)X射線熒光光譜定量分析對標準樣品的基本要求：(1)組成標準樣品的元素種類與未知樣相似(**相同)；(2)標準樣品中所有組分的含量應該已知；(3)未知樣中所有被測元素的濃度包含在標準樣品中被測元素的含量范圍中；(4)標準樣品的狀態(tài)(如粉末樣品的顆粒度、固體樣品的表面光潔度
2018
07-12

研磨膏的使用經(jīng)驗分享
研磨膏的使用經(jīng)驗分享研磨膏是由磨料和媒劑混合制成的。其中磨料起主要切削作用，媒劑起黏度、冷卻、潤滑和促進氧化作用。用于儀器、儀表和機械零件的研磨、拋光，使之提高精度、光潔度和除銹耐蝕能力。研磨膏是一種重要的精密機械光整加工工具，分軟膏和硬膏。根據(jù)工件材料的性質，加工精度和光潔度的要求選用不同磨料。常用的磨料有氧化鉻、白剛玉、綠碳化硅、碳化硼、金剛石等。研磨膏精選進口和國產(chǎn)金剛石原料，經(jīng)預處理、破碎、整形、酸堿處理、分級、烘干等多道工序精心制作成超精微粉，顆粒均勻，粒度集中，等積形占比例*，配合多
2018
07-09

如何根據(jù)自身情況選購ICP光譜儀
1.根據(jù)自已實際的應用情況，選擇合適的儀器類型目前ICP光譜儀主要分為多道型、單道掃描型以及全譜直讀型，其中多道型和單道掃描型代表的是80年代的技術水平，它們以光電倍增管為檢測器，技術上非常成熟，但也較落后，其中多道型已幾乎退出歷史舞臺，單道掃描型以其合適的價格和靈活方便仍占有一定的*。全譜直讀型儀器代表了當今ICP的****水準，它以CID或CCD(SCD)半導體器件為檢測器;中階梯光柵結合棱鏡(或平面光柵)構成二維、高分辯率、高能量色散系統(tǒng)，能同時獲得各元素譜線的信息。此類型儀器經(jīng)近十年的不
2018
06-28

ICP光譜儀應用范圍
ICP光譜儀應用范圍都有哪些?ICP光譜儀它的迅速發(fā)展和廣泛應用是與其克服了經(jīng)典光源和原子化器的局限性分不開的，ICP光譜法是上世紀60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來的一種分析方法。ICP光譜儀應用范圍一、地礦樣品的分析：包括地質樣品、礦石及礦物等。二、動植物及生化樣品的分析：包括植物、中藥及動物組織、生物化學樣品等。三、核工業(yè)產(chǎn)品的分析：包括核燃料、核材料等。四、食品及飲料的分析：包括食品、飲料等。五、化學化工產(chǎn)品的分析：包括化學試劑化工產(chǎn)品無機材料化妝品油類等。六、鋼鐵及其合金的分析：包括碳
2018
06-26

購買賽默飛霧化器需要考慮的幾個方面
購買賽默飛霧化器需要考慮的幾個方面賽默飛霧化器是體積小、噪聲小、出霧效率快、便于攜帶、使用方便，而且必須符合醫(yī)療器材的用電安全、電池相容性、環(huán)境溫度與濕度、電擊和震顫的標準、材質的生物相容性等，應注意其產(chǎn)品注冊證號、生產(chǎn)許可證號等，注意留意產(chǎn)品說明上的一些技術性能參數(shù)的指標，比如：電源要求、藥液容量（一般為2～13ml）、藥粒尺寸（用于支氣管炎、肺炎等下呼吸道疾病治療時zui為適宜的藥霧顆粒直徑是1～5μm，所以藥粒尺寸要求≤5μm）、平均霧化量（此指標可以估算霧化治療所需消耗的時間）、氣體流量
2018
06-25

X熒光光譜儀的優(yōu)缺點
X熒光光譜儀的優(yōu)缺點：1、優(yōu)點a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒關系(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。c)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。d)X射線熒光分析是
2018
06-21

空心陰極燈該怎樣正確進行保養(yǎng)
空心陰極燈是一種特殊形式的低壓氣體放電光源，放電集中于陰極空腔內。當在兩極之間施加200V-500V電壓時，便產(chǎn)生輝光放電。在電場作用下，電子在飛向陽極的途中，與載氣原子碰撞并使之電離，放出二次電子，使電子與正離子數(shù)目增加，以維持放電。正離子從電場獲得動能。如果正離子的動能足以克服金屬陰極表面的晶格能，當其撞擊在陰極表面時，就可以將原子從晶格中濺射出來。除濺射作用之外，陰極受熱也要導致陰極表面元素的熱蒸發(fā)。濺射與蒸發(fā)出來的原子進入空腔內，再與電子、原子、離子等發(fā)生第二類碰撞而受到激發(fā)，發(fā)射出相應
2018
06-19

原子吸收光譜儀的維護
原子吸收光譜儀的維護有如下幾個方面：1.開機前，檢查各插頭是否接觸良好，調好狹縫位置，將儀器面板的所有旋鈕回零再通電。開機應先開低壓，后開高壓，關機則相反。2.空心陰極燈需要一定預熱時間。燈電流由低到高慢慢升到規(guī)定值，防止突然升高，造成陰極濺射。有些低熔點元素燈如Sn、Pb等，使用時防止震動，工作后輕輕取下，陰極向上放置，待冷卻后再移動裝盒。裝卸燈要輕拿輕放，窗口如有污物或指印，用擦鏡紙輕輕擦拭?？招年帢O燈發(fā)光顏色不正常，可用燈電流反向器(相當于一個簡單的燈電源裝置)，將燈的正、負相反接，在燈大
2018
06-19

賽默飛石墨管的使用小細節(jié)
賽默飛石墨管的使用小細節(jié)賽默飛石墨管是利用石墨制作出來的一種用于生產(chǎn)和實驗的材料。賽默飛石墨管是含量大于百分之九十九點九的賽默飛石墨管，是賽默飛石墨管當中品質比較好的產(chǎn)品。賽默飛石墨管作為石墨爐的心臟，在一次分析的總體穩(wěn)定性方面起著重要的作用。為了確保從一個霧化周期到另一個霧化周期中分析條件的穩(wěn)定，所有石墨零件——石墨錐、賽默飛石墨管和平臺——必須收到儀器制造商和石墨制造商的嚴格質量控制。賽默飛石墨管的使用時注意事項：（1）當石墨錐已使用過，在裝入賽默飛石墨管之前應將石墨錐與賽默飛石墨管接觸處用
2018
06-12

X熒光光譜儀技術原理
X熒光光譜儀(XRF)主要由激發(fā)源X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關，其數(shù)學關系如下：λ=K(Z?s)?2式

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