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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

11
  • 2019

    03-27

    掃描式電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及優(yōu)勢(shì)

    掃描式電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及優(yōu)勢(shì)掃描式電子顯微鏡的工作原理與黑白工業(yè)電視相似,顯示部分與黑白工業(yè)電視可以說是*相同,只不過顯像管用的是長(zhǎng)余輝的,掃描電路是慢掃描的,再把屏幕轉(zhuǎn)九十度觀看而已;攝像部分的區(qū)別略大一些,它是把閃爍體上的圖像用光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號(hào),而不是用CCD或者CMOS等傳感器直接轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。掃描式電子顯微鏡是一種大型精密儀器,它是機(jī)械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門學(xué)科的綜合應(yīng)用。掃描式電子顯微鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um),在加速電壓的作用下經(jīng)過磁
  • 2019

    03-26

    掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)

    掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)掃描電鏡按結(jié)構(gòu)和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。掃描電鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu),主要用于觀察固體表面的形貌,也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合,構(gòu)成電子微探針,用于物質(zhì)成分分析;發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。因電子束穿透樣品后,再用掃描電鏡成像放大而得名,它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿,可以直接獲得一個(gè)樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統(tǒng)人們可以直接放大物鏡的焦點(diǎn)的像,由此人們可以獲
  • 2019

    03-08

    當(dāng)臺(tái)式電鏡遇見肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源

    在2018年之前,為何沒有看到使用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源(FEG)的臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)呢?為何在臺(tái)式掃描電鏡(SEM)中使用場(chǎng)發(fā)射電子源(FEG)是十分的呢?當(dāng)臺(tái)式掃描電鏡遇見場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡(SEM)是一個(gè)相對(duì)年輕且發(fā)展迅速的產(chǎn)品。其實(shí)許多應(yīng)用領(lǐng)域并不需要使用低于1nm的超高分辨率掃描電鏡(SEM),10nm的分辨率是綽綽有余的。然而,由于材料特征點(diǎn)尺寸越來越小和觀測(cè)需求的增加,臺(tái)式掃描電鏡(SEM)用戶有時(shí)希望設(shè)備能夠具有更好的分辨率,并且保持測(cè)樣效率不變、操作依然簡(jiǎn)便。飛納臺(tái)
  • 2019

    03-04

    德飛熒光掃描電鏡一體機(jī)優(yōu)勢(shì),你造嗎?

    德飛熒光掃描電鏡一體機(jī)是一臺(tái)采用AutomaticOverlap(自動(dòng)交疊)技術(shù)的設(shè)備,借助該設(shè)備,用戶可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率結(jié)合在一起,觀察研究樣品納米尺度范圍的動(dòng)態(tài)過程,定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件。德飛熒光掃描電鏡一體機(jī)優(yōu)勢(shì):1、使用熒光掃描電鏡一體機(jī),得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片。2、無需特殊安裝環(huán)境,繼承了大部分飛納臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn),體積小,速度快,操作簡(jiǎn)單,*防震。3、無需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒
  • 2019

    02-28

    樣品制備:如何分散粉末以獲得優(yōu)異的掃描電鏡圖像

    由于增材制造的重要性日益提高,顆粒分析變得越來越重要,導(dǎo)致工業(yè)制造商對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量要求更嚴(yán)格。除了產(chǎn)量大化外,制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當(dāng)尺寸和形態(tài)的顆粒。在本篇文章中,將討論如何使用Nebula™顆粒分散器實(shí)現(xiàn)顆粒均勻分散,并且可以使用飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)分析顆粒。分散粉末樣品的原因?yàn)榱舜_保顆粒分析的準(zhǔn)確性,不僅需要分離單個(gè)顆粒,而且還要分離附著物。圖1顯示了將粉末樣品直接添加到碳導(dǎo)電膠上和使用Nebula™顆粒分散器之間的區(qū)別。圖1:將粉末樣品直接涂覆到碳導(dǎo)電膠(左)和
  • 2019

    02-26

    讓掃描電鏡擁有長(zhǎng)期穩(wěn)定的分辨率

    當(dāng)談?wù)搾呙桦婄R品質(zhì)的時(shí)候,人們總喜歡將分辨率、放大倍數(shù)等參數(shù)作為評(píng)判依據(jù)的*。尤其是在購買新設(shè)備時(shí),更是將這兩項(xiàng)參數(shù)視若明珠,不敢稍加怠慢,因此很容易陷入“參數(shù)黨”的漩渦而背離了購買電鏡的初衷。那么不妨回過神兒來仔細(xì)想想,大家購買掃描電鏡的實(shí)際需求是什么?當(dāng)然是為了更、更快捷地觀察樣品。那么如何實(shí)現(xiàn)上述的目的呢?設(shè)備與人是使用電鏡過程中的兩大主體,將電鏡的分辨率、放大倍數(shù)等參數(shù)置于考察的*固然無錯(cuò),但是更加不能忽略操作人員與電鏡的交互過程,也就是使用與管理體驗(yàn),這其中包括了設(shè)備對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性、易
  • 2018

    11-19

    PhenomWorld臺(tái)式掃描電鏡主要優(yōu)勢(shì)

    1、圖像自動(dòng)重疊技術(shù),無需人工校準(zhǔn)就能得到熒光和電鏡疊加照片,疊加精度50nm。2、無需特殊安裝環(huán)境,繼承了大部分飛納臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)。3、無需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒光和電鏡圖像。4、使用熒光掃描電鏡一體機(jī),得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片。5、非常容易使用,一分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片。6、高度集成的軟硬件,一個(gè)軟件界面控制熒光和電鏡操作。熒光顯微鏡和掃描電鏡結(jié)合使用的難點(diǎn)在于樣品觀察點(diǎn)定位,準(zhǔn)確的定位才能提供的疊加照片。德飛(Del
  • 2018

    10-29

    Delphi光學(xué)電子顯微鏡的優(yōu)勢(shì)在哪里?

    Delphi光學(xué)電子顯微鏡采用AutomaticOverlap(自動(dòng)交疊)技術(shù)的設(shè)備,簡(jiǎn)單的說,借助該設(shè)備,用戶可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率結(jié)合在一起,觀察研究樣品納米尺度范圍的動(dòng)態(tài)過程,定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件,通過在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像,實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)得到樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的信息。該儀器的優(yōu)勢(shì)體現(xiàn):1、非常容易使用,3分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片2、無需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒光和電鏡圖像3、無需
  • 2018

    10-27

    掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣

    掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣掃描電鏡的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到世界范圍內(nèi)廣大用戶的信賴與認(rèn)可。掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒
  • 2018

    10-11

    為什么掃描電鏡(SEM)是適合纖維分析的檢測(cè)設(shè)備

    纖維無處不在。生活中存在不同類型的纖維,但在大多數(shù)情況下不會(huì)注意到它們,因?yàn)槔w維被應(yīng)用在產(chǎn)品中。如果一個(gè)物體長(zhǎng)度遠(yuǎn)大于其寬度,認(rèn)為它是纖維。纖維對(duì)所使用的產(chǎn)品的性能有著重要的影響。這篇博客將描述這些纖維的不同分類方式以及如何更好地分析它們的性能。提示:將纖維放在特定的顯微鏡下。您會(huì)發(fā)現(xiàn)適合纖維分析的方法,請(qǐng)繼續(xù)閱讀!纖維顯微鑒定與分類如果在網(wǎng)上搜索“纖維”這個(gè)詞,會(huì)發(fā)現(xiàn)纖維可以分為天然纖維和工程纖維。在這篇文章中,將重點(diǎn)關(guān)注工程織物,特別是無紡布。無紡布·工程纖維·具有特定結(jié)構(gòu)和特定性質(zhì)·采用率
  • 2018

    09-27

    飛納桌面掃描電鏡產(chǎn)品的工藝要點(diǎn)

    飛納桌面掃描電鏡產(chǎn)品的工藝要點(diǎn)飛納桌面掃描電鏡采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡需要傳統(tǒng)意義上的操作,可以率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。飛納桌面掃描電鏡可以自由控制SE和BSE檢測(cè)信號(hào),全新真空技術(shù)設(shè)計(jì)使得冷場(chǎng)發(fā)射電子束具有超穩(wěn)定和高亮度特點(diǎn),全新物鏡設(shè)計(jì)顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率,能夠調(diào)整信號(hào)檢測(cè)角度,明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像和二次電子圖像可以同時(shí)顯示并拍攝照片,與兼容的側(cè)插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。飛納桌面掃
  • 2018

    09-26

    飛納電鏡操作過程自動(dòng)化:背散射電子和二次電子混合像

    當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子(BSE)和二次電子(SE)。通過檢發(fā)射信號(hào)可獲得樣品表面的成分襯度像(背散射電子)和表面形態(tài)像(二次電子)。背散射電子和二次電子是如何形成的,為什么它們攜帶特定的樣品信息?此外,能否在一幅圖像中同時(shí)獲得成分和形態(tài)信息?當(dāng)入射電子束擊中樣品表面時(shí),會(huì)產(chǎn)生二次電子和背散射電子,檢測(cè)并收集這些信號(hào)從而形成圖像。二次電子是由樣品的核外電子的非彈性散射產(chǎn)生的,如圖1左圖所示。二次電子(SE)是低能量電子(通常小于50eV),容易被吸收。這就是為什么只有從極薄的樣
  • 2018

    09-25

    掃描電子顯微鏡的操作規(guī)程

    掃描電子顯微鏡的操作規(guī)程掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛應(yīng)用于觀察各種固態(tài)物質(zhì)的表面超微結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組成所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對(duì)圖象象元掃掠的工作過程。它與電視一樣是由控制電子束偏轉(zhuǎn)的電子系統(tǒng)來完成的,只是在結(jié)構(gòu)和部件上稍有差異而已。在電子掃描中,把電子束從左到右方向的掃描運(yùn)動(dòng)叫做行掃描或稱作水平掃描,把電子束從上到下方向的掃描運(yùn)動(dòng)叫做幀掃描或稱作垂直掃描。兩者的掃描速度*不同,行掃描的速度比幀掃描的速度快,對(duì)于1000條線的掃描圖象來說,速度比為1000。掃描電子顯
  • 2018

    09-25

    電磁透鏡和像差:哪些因素會(huì)影響掃描電鏡的分辨率?

    分辨率是掃描電鏡(SEM)重要的參數(shù)之一。分辨率越好,可以看到的特征尺寸越小。分辨率的好壞往往取決于聚焦在樣品上的電子束斑的直徑(即束斑尺寸)。在非理想電子光學(xué)系統(tǒng)中,束斑尺寸會(huì)因像差而變大。什么是電子光學(xué)系統(tǒng)中的像差?它們?nèi)绾斡绊懯叱叽??在這篇博客中,將回答這些問題并進(jìn)行深入的分析。一個(gè)非常簡(jiǎn)單的電子光學(xué)系統(tǒng)的例子在之前的博客中,談到了鏡筒和透鏡組。通常,鏡筒由一組透鏡組成,這些透鏡具有約束電子束并將電子聚焦于樣品表面的功能。樣品上的束斑尺寸決定了電子顯微鏡的分辨率。但是,束斑尺寸是如何定義
  • 2018

    09-19

    汽車制造*引進(jìn)飛納臺(tái)式掃描電鏡

    廣州汽車集團(tuán)股份有限公司(GuangzhouAutomobileGroupCo.,Ltd.,簡(jiǎn)稱廣汽集團(tuán))是中國(guó)汽車行業(yè)在集團(tuán)層面引入多家合資伙伴,進(jìn)行改制設(shè)立股份公司的企業(yè)。2018年8月,廣汽集團(tuán)引進(jìn)飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版PhenomXL。目前,廣汽集團(tuán)測(cè)樣量大的樣品就是零部件的斷裂/開裂的失效分析(金屬斷口)。金屬斷口通常是一個(gè)凹凸不平的粗糙面,而且是塊狀樣品,取樣容易,在掃描電鏡的樣品倉中可進(jìn)行傾斜旋轉(zhuǎn)多角度觀察,因此掃描電鏡非常適合斷口分析。下面,對(duì)于典型的金屬斷口形貌作一些簡(jiǎn)單的
  • 2018

    08-27

    高分辨率臺(tái)式掃描電鏡的特點(diǎn)和功能

    高分辨率臺(tái)式掃描電鏡的特點(diǎn)和功能高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是一款使用高亮度燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù)130,000倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu),基于高亮度燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)的分辨率輕松達(dá)到14nm,同時(shí)具有全自動(dòng)操作,15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3年更換燈絲等特點(diǎn)。(1)高分辨率臺(tái)式掃描電鏡體型小巧,占用空間??;(2)強(qiáng)大的軟件功能,單窗口操作界面讓用戶操作方便簡(jiǎn)單;(3)軟件實(shí)現(xiàn)檢測(cè)圖形實(shí)時(shí)存儲(chǔ);(4)高分辨率臺(tái)式掃描電鏡產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔,易于維護(hù)及保養(yǎng);(5)自動(dòng)
  • 2018

    08-27

    磁性材料放心測(cè)——飛納電鏡在稀土永磁材料研究中的應(yīng)用

    稀土永磁材料是將釤、釹混合稀土金屬與過渡金屬(如鈷、鐵等)組成的合金,是現(xiàn)在已知的綜合性能很高的一種永磁材料。稀土永磁材料的磁能積、矯頑力、剩磁等性能都顯著高于鋁鎳鈷合金、鐵氧體磁鐵等。稀土永磁可以產(chǎn)生超過1.4特斯拉的磁場(chǎng),而傳統(tǒng)鐵氧體磁鐵可產(chǎn)生的磁場(chǎng)強(qiáng)度大約只有0.5-1特斯拉。稀土永磁按照組成主要分為兩種:釹鐵硼磁鐵和釤鈷磁鐵;按照制備工藝主要分為燒結(jié)磁體、熱壓(熱流變)磁體和粘接磁體。稀土元素具有鐵磁性,像鐵一樣可以被磁化變成磁鐵,但純稀土元素居里溫度比室溫低,只有在低溫下才能保留磁性。
  • 2018

    08-22

    飛納掃描電鏡具有很多*的性能

    飛納掃描電鏡具有很多*的性能飛納掃描電鏡通過多點(diǎn)觸控技術(shù)和新的操作軟件,操作直觀簡(jiǎn)單,只需輕觸屏幕就能像操作智能手機(jī)一樣操控各種功能,舒適便捷,新開發(fā)的操作界面簡(jiǎn)明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的圖像,進(jìn)行元素分析。飛納掃描電鏡表面分析儀優(yōu)點(diǎn):有較高的放大倍數(shù),幾萬~幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào);有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);試樣制備簡(jiǎn)單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有
  • 2018

    08-08

    增材制造:通過掃描電鏡(SEM)改進(jìn)增材制造加工工藝

    在之前的博客中,我們介紹了增材制造(AM)是一種新的制造方法,并介紹了其關(guān)鍵點(diǎn)。增材制造也被稱為3D打印或快速成型,由于其無限的潛力,吸引了眾多人士和行業(yè)的關(guān)注。在這篇博客中,我們將介紹如何使用掃描電鏡(SEM)來監(jiān)測(cè)和改善增材制造質(zhì)量。掃描電鏡(SEM)檢測(cè)表面缺陷目前,AM廠商使用掃描電鏡(SEM)作為產(chǎn)品的表征技術(shù)。掃描電鏡(SEM)可以提供高分辨率圖像,可以仔細(xì)檢查AM工藝生產(chǎn)組件的表面質(zhì)量。掃描電鏡(SEM)的使用可以幫助我們揭示產(chǎn)品的表面缺陷,這些缺陷往往影響著產(chǎn)品的機(jī)械性和耐久性。
  • 2018

    08-02

    掃描電鏡分析導(dǎo)致樣品破壞的原因及緩解辦法

    當(dāng)使用掃描電鏡(SEM)觀察樣品時(shí),隨著時(shí)間增加,電子束可以改變或破壞樣品。樣品破壞是一種不利的影響,因?yàn)樗赡軙?huì)改變或甚至毀壞想要觀察的細(xì)節(jié),從而改變電鏡檢測(cè)結(jié)果和結(jié)論。在這篇博客中,將解釋導(dǎo)致樣品破壞的原因,以及如何緩解這一過程。掃描電鏡(SEM)中,使用聚焦電子束掃描樣品的表面獲取信號(hào)后續(xù)處理來產(chǎn)生圖像。電子由電子槍產(chǎn)生并通過高壓加速獲得更高能量,通過電磁透鏡使其匯聚。加速電壓一般在1kV至30kV范圍內(nèi),終作用于樣品的掃描電鏡束流在納安數(shù)量級(jí)。經(jīng)過高壓加速的電子與樣品表面相互作用,對(duì)于不
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