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2025
07-16

如何通過掃描電鏡檢測汽車清潔度中的硬質(zhì)顆粒并獲取成分信息
摘要：隨著汽車工業(yè)對質(zhì)量與可靠性的要求日益提升，汽車清潔度檢測已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對微小顆粒的識別需求，因此，先進(jìn)的掃描電鏡（SEM）技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)域。借助掃描電鏡結(jié)合X射線能譜儀（EDX）的高分辨率成像與元素分析能力，工程師不僅能夠檢測出微米級污染顆粒，還可精確判斷其材質(zhì)與來源，大幅提升汽車零部件清潔度控制的準(zhǔn)確性與效率。特別是在滿足ISO16232與VDA19標(biāo)準(zhǔn)方面，掃描電鏡正逐漸成為評估和提升汽車零部件清潔度的核心工具。汽車行業(yè)中關(guān)于清
2025
07-16

臺式電鏡能譜一體機(jī)的使用方法很簡單，看完您就知道了
臺式電鏡能譜一體機(jī)是集成了掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散X射線光譜儀(EDS)功能的儀器設(shè)備。(一)掃描電子顯微鏡(SEM)部分1.電子束發(fā)射-臺式電鏡通常采用場發(fā)射電子源或鎢絲電子源。場發(fā)射電子源通過在強(qiáng)電場作用下，從尖銳的發(fā)射體表面提取電子，其具有亮度高、電子束斑小等優(yōu)點(diǎn)，能夠提供高分辨率的圖像。鎢絲電子源則是依靠加熱鎢絲使其熱發(fā)射電子，成本相對較低，但電子束的亮度和穩(wěn)定性稍遜于場發(fā)射源。2.電子加速與聚焦-發(fā)射出的電子經(jīng)過陽極的加速作用，獲得較高的能量。然后通過電磁透鏡系統(tǒng)對電子束進(jìn)行
2025
07-02

半導(dǎo)體制造中的掃描電鏡：從工藝診斷到失效分析
掃描電鏡（SEM,ScanningElectronMicroscope）作為半導(dǎo)體行業(yè)中常用的高精度檢測工具，憑借其納米級分辨率和強(qiáng)大的表征能力，已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工藝優(yōu)化等多個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文將詳細(xì)介紹掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的典型應(yīng)用場景及其技術(shù)價值。掃描電鏡能譜一體機(jī)一、質(zhì)量檢測與工藝診斷1.硅片表面污染檢測在半導(dǎo)體制造過程中，硅片表面污染會嚴(yán)重影響器件良率和可靠性。掃描電鏡可對污染物進(jìn)行高分辨率觀察，識別其形貌和分布特征，若配合能譜儀（EDS），還能進(jìn)一步分析污染物的元
2025
06-30

掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略：從原理到實(shí)踐
掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略：從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡（SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過半個多世紀(jì)的發(fā)展，現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌觀察功能，還能聯(lián)用能譜（EDS）、背散射電子衍射（EBSD）等探頭，實(shí)現(xiàn)成分分析與晶體結(jié)構(gòu)解析。然而，再先進(jìn)的儀器也離不開良好的樣品制備。SEM樣品制備的質(zhì)量，直接影響成像效果和分析結(jié)果。若樣品制備不當(dāng)，即使電鏡性能優(yōu)（you）越，也難以獲得清晰圖像或準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。因此，掌握正確的制樣方法至關(guān)重要。一、
2025
06-30

掃描電子顯微鏡對樣品有哪些要求？
掃描電子顯微鏡通過束來掃描樣品的表面并生成高分辨率的圖像。因?yàn)樵搱D像具有很高的價值，所以一定要嚴(yán)格按照要求進(jìn)行操作。為了確保能夠得到清晰、準(zhǔn)確的顯微圖像，在使用要合理處理樣品。優(yōu)勢：1、高分辨率與寬放大倍數(shù)：分辨率：常規(guī)SEM1-10納米，場發(fā)射SEM0.4-2納米。放大倍數(shù)：10倍至1,000,000倍連續(xù)可調(diào)，覆蓋宏觀到納米尺度。2、大景深與立體成像：景深比光學(xué)顯微鏡高數(shù)百倍，適合粗糙表面三維成像。3、多功能分析：結(jié)合EDS、EBSD等附件，可同步分析形貌、成分、晶體結(jié)構(gòu)。4、非破壞性觀察：
2025
06-24

全自動掃描電鏡可以實(shí)時觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)變化
在新材料的研發(fā)過程中，全自動掃描電鏡可以實(shí)時觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)變化，幫助研究人員優(yōu)化制備工藝和參數(shù)，提高材料的性能和質(zhì)量。例如，在鋰電池正極材料的研究中，通過掃描電鏡可以觀察正極材料的顆粒形狀、尺寸分布以及表面包覆情況，分析其對電池性能的影響，從而指導(dǎo)生產(chǎn)工藝的改進(jìn)。在產(chǎn)品質(zhì)量控制方面，可以快速檢測材料表面的缺陷、雜質(zhì)以及微觀結(jié)構(gòu)的均勻性，確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。在生物醫(yī)學(xué)研究中可用于觀察生物樣本的微觀形態(tài)和結(jié)構(gòu)，如研究細(xì)胞的形態(tài)變化、細(xì)胞間的相互作用、生物膜的結(jié)構(gòu)以及藥物對細(xì)胞的影響等。例如，在
2025
06-18

全自動掃描電鏡的基本原理與結(jié)構(gòu)組成
全自動掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)是一種融合了電子光學(xué)技術(shù)與自動化控制系統(tǒng)的微觀分析設(shè)備。它通過電子束掃描樣品表面，以高放大倍數(shù)和高精度觀察樣品的形貌、成分和結(jié)構(gòu)，為材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)有力的支持。全自動掃描電鏡基本原理與結(jié)構(gòu)組成：1.電子槍：全自動掃描電鏡的電子槍是產(chǎn)生電子束的源頭，常見的有鎢絲槍、場發(fā)射槍(FEG)等類型。場發(fā)射槍具有更高的亮度和更小的電子源尺寸，能夠提供更高分辨率的圖像，但成本也相對較高；鎢絲槍則具有成本較
2025
06-03

火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時”,Neoscan顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時”，Neoscan顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究！在地質(zhì)研究中，“時間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍巖反應(yīng)、最終噴出地表，這一過程可能僅在數(shù)天乃至數(shù)小時內(nèi)完成。如何獲取噴發(fā)前這一關(guān)鍵窗口的“時間密碼”？美國西華盛頓大學(xué)的研究團(tuán)隊(duì)給出了一個新思路——通過分析火山碎屑中石英晶體周圍的單斜輝石反應(yīng)邊（clinopyroxenereactionrims），重建巖漿同化至噴發(fā)的時間過程。而這項(xiàng)研究中，Neos
2025
05-27

高分辨率臺式掃描電鏡的檢定和校準(zhǔn)方法
高分辨率臺式掃描電鏡的檢定和校準(zhǔn)是確保其性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確的重要步驟。以下是一些基本的檢定和校準(zhǔn)方法：1.機(jī)械部分檢定與校準(zhǔn)-樣品臺運(yùn)動精度：使用千分尺等精密量具，對樣品臺在X、Y、Z方向的運(yùn)動范圍和精度進(jìn)行測量。檢查樣品臺移動是否平穩(wěn)、有無卡頓或回程誤差等，確保樣品臺能夠準(zhǔn)確地將樣品移動到電子束照射的位置。-鏡頭對準(zhǔn)與聚焦：通過觀察標(biāo)準(zhǔn)樣品(如具有清晰特征的微柵格樣品)在不同放大倍數(shù)下的成像情況，調(diào)整鏡頭的對準(zhǔn)和聚焦。確保電子束能夠準(zhǔn)確地聚焦在樣品表面上，獲得清晰的圖像。2.電子光學(xué)系統(tǒng)檢定與
2025
05-22

AFM-SEM聯(lián)用技術(shù)：半導(dǎo)體失效分析新突破（文末網(wǎng)絡(luò)研討會預(yù)告）
半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，支撐著從計(jì)算到數(shù)據(jù)存儲的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM失效分析：該技術(shù)直接集成于FIB/SEM（聚焦離子束/掃描電鏡）環(huán)境，能夠在納米尺度下對半導(dǎo)體元件進(jìn)行原位、特定位置的電學(xué)與形貌表征。它提供精確的電導(dǎo)率映射和摻雜分布分析，同時保持樣品完整性。?核心優(yōu)勢特定位置的失效分析:利用SEM精確定位，結(jié)合高分辨率電導(dǎo)率與摻雜分布映射。.無縫真空工作流:與現(xiàn)有失效分析工具全兼容，避免表面氧化和污染。.探針保護(hù)與優(yōu)化接
2025
05-21

高分辨率臺式掃描電鏡融合了電子光學(xué)技術(shù)
高分辨率臺式掃描電鏡是一種在微觀尺度下對樣品進(jìn)行形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備，它融合了電子光學(xué)技術(shù)和創(chuàng)新的成像原理，為科研、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等多個領(lǐng)域提供了強(qiáng)大的工具。核心在于其電子光學(xué)系統(tǒng)，這一系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確地聚焦和操控電子束，使其以細(xì)致的直徑照射到樣品表面。在這個過程中，電子與樣品中的原子發(fā)生相互作用，產(chǎn)生各種信號，如二次電子、背散射電子等。這些信號被探測器捕捉后，經(jīng)過處理轉(zhuǎn)化為圖像，從而展現(xiàn)出樣品的表面形貌。與傳統(tǒng)的大型掃描電鏡相比，高分辨率臺式掃描電鏡具有許多優(yōu)勢。它的體積較小，占用空間少
2025
05-21

原子層沉積賦能無鈷 LiNiO? 正極材料全固態(tài)鋰電池性能革新
NatureNanotechnology｜原子層沉積賦能無鈷LiNiO?正極材料，全固態(tài)鋰電池性能革新！發(fā)表文章：High-energyall-solid-statelithiumbatteriesenabledbyCo-freeLiNiO2cathodeswithrobustoutside-instructures發(fā)表期刊：NatureNanotechnology01摘要本研究報道了一種基于無鈷LiNiO?（LNO）正極材料的高能量全固態(tài)鋰電池（ASSLBs），通過高壓O?合成和原子層沉積（A
2025
05-20

比利時國家罪邢研所：法醫(yī)刑偵“神器”—飛納硅藻AI檢測
在比利時國家fan罪學(xué)與刑事學(xué)研究所（NICC）的微跡與昆蟲學(xué)實(shí)驗(yàn)室中，LucBourguignon負(fù)責(zé)尋找并研究生物來源的微量物證，如人類和動物毛發(fā)、昆蟲、植物、硅藻等。該實(shí)驗(yàn)室的分析結(jié)果被用于刑事調(diào)查和法庭審判。在微跡與昆蟲學(xué)實(shí)驗(yàn)室中，幾乎所有分析都涉及顯微鏡技術(shù)。實(shí)驗(yàn)室內(nèi)配備多種顯微鏡，其中一部分是光學(xué)顯微鏡，此外，槍擊殘留物實(shí)驗(yàn)室還配備有幾臺大型傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡（SEM）。微跡與昆蟲學(xué)實(shí)驗(yàn)室則需更高放大倍數(shù)的SEM圖像，但購置大型設(shè)備的成本高昂，且需額外配套設(shè)施和專業(yè)人員支持。其他實(shí)驗(yàn)
2025
05-19

?它憑什么成為顯微CT中的“愛馬仕”？科研人都在用的Neoscan 顯微CT 揭秘
它憑什么成為顯微CT中的“愛馬仕”？科研人都在用的比利時Neoscan顯微CT揭秘！你是否也曾為看不清材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)而苦惱？是否在尋找一臺操作簡單、掃描快速、圖像清晰的顯微CT？40年歷史沉淀，一直站在Micro-CT技術(shù)革新的前沿，Neoscan正在成為最懂你的顯微CT！Neoscan品牌歷史起點(diǎn)：從一位年輕科學(xué)家的博士項(xiàng)目開始（1980）1980年：故事的序章開啟于1980年，當(dāng)顯微斷層掃描技術(shù)（micro-CT）被構(gòu)想時，它還只是（AlexanderSasov）博士項(xiàng)目中的一個概念。1983
2025
05-12

使用全自動掃描電子顯微鏡 (SEM) 評估液態(tài)金屬加工樣品
粗鋼生產(chǎn)在高溫環(huán)境下引入了高氧化性條件。無論是采用高爐/轉(zhuǎn)爐聯(lián)合工藝，還是在電弧爐中對廢鋼和替代鐵元素進(jìn)行重熔，鋼水都會吸收數(shù)百甚至數(shù)千ppm的溶解氧。為了降低鋼水中氧的活度，可以添加碳、錳、硅、鋁、鈦和鈣等多種元素，這些元素對氧的親和力各不相同。例如，在熔池中添加約200ppm的鋁，可以將溶解氧降低至約3ppm，從而使微米級的AlO顆粒均勻分布在鋼水中。此外，鈣對氧的親和力更強(qiáng)，但由于其沸點(diǎn)低，因此它不用于初級脫氧，而是用于改性夾雜物。圖1.氧化鋁團(tuán)簇（頂部）和TiN立方體（底部）在夾雜物頂部
2025
05-09

磷酸鋁 ALD 破解高鎳鋰電正極材料結(jié)構(gòu)疲勞難題
在新能源汽車和儲能系統(tǒng)領(lǐng)域，鋰離子電池正極材料的性能突破始終是行業(yè)關(guān)注焦點(diǎn)。近期，英國華威大學(xué)及法拉第研究所發(fā)表于《PRXEnergy》的一項(xiàng)突破性研究成果揭示了PALD（粉末原子層沉積）技術(shù)在抑制高鎳正極材料結(jié)構(gòu)疲勞方面的潛力，為高電壓鋰電體系的商業(yè)化應(yīng)用鋪平了道路。該工作使用的ALD包覆工藝由ForgeNano提供。Part.1高鎳正極的"阿喀琉斯之踵"鎳含量超過60%的層狀氧化物正極（如LiNi0.8Mn0.1Co0.1O2，簡稱NMC811）因其高比容量和能量密度成為下一代鋰電的核心材料
2025
04-27

臺式場發(fā)射掃描電鏡的應(yīng)用場景有哪些？
臺式場發(fā)射掃描電鏡是結(jié)合場發(fā)射電子源與緊湊設(shè)計(jì)的分析工具，兼具高分辨率成像、多模式分析和易用性，適用于材料科學(xué)、生命科學(xué)及工業(yè)檢測等領(lǐng)域。本公司提供的PhenomPharos飛納臺式場發(fā)射電鏡采用熱場發(fā)射電子源，信噪比高，使用壽命長，保證長期穩(wěn)定的性能。臺式場發(fā)射電鏡能譜一體機(jī)標(biāo)配背散射電子成像、二次電子電子成像和能譜分析功能，可對各種樣品進(jìn)行高分辨成像及元素分析應(yīng)用場景：1、材料科學(xué)研究納米材料：表征量子點(diǎn)、二維材料的層數(shù)、缺陷及界面結(jié)構(gòu)。能源材料：分析鋰離子電池電極材料的晶格畸變、顆粒團(tuán)聚及
2025
04-24

南科大二維材料實(shí)驗(yàn)室開創(chuàng)性研究：場發(fā)射掃描電鏡在手套箱中使用
二維材料因其高的表面積與體積比而不穩(wěn)定，對環(huán)境因素如水分、氧氣和污染物高度敏感。這種敏感性會導(dǎo)致它們在自然環(huán)境氣氛下降解或發(fā)生化學(xué)變化。為解決這些挑戰(zhàn)，南方科技大學(xué)先進(jìn)低維材料實(shí)驗(yàn)室（SuSTech）林君浩教授團(tuán)隊(duì)開發(fā)了一套新型的手套箱互聯(lián)系統(tǒng)——全惰性氛圍保護(hù)的手套箱互聯(lián)系統(tǒng)（GIS），用于研究這些材料。通過在連續(xù)、封閉的惰性環(huán)境中進(jìn)行所有工作，他們能夠多次分析而保持敏感二維材料的完整性。專用于研究空氣敏感材料的手套箱互聯(lián)系統(tǒng)示意圖和實(shí)物圖01手套箱互聯(lián)系統(tǒng)的優(yōu)勢通常，敏感二維材料在分析時需要
2025
04-23

飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)的使用注意事項(xiàng)
飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)結(jié)合了電子顯微鏡和能譜分析功能，可以觀察樣品的形貌并進(jìn)行元素的定性和定量分析；能夠提供高分辨率的圖像和準(zhǔn)確的成分分析結(jié)果，有助于揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分；相對于大型電鏡設(shè)備來說，通常具有更簡單的操作流程和更低的使用門檻。用戶可以通過簡單的培訓(xùn)快速掌握儀器的使用方法。飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)的應(yīng)用領(lǐng)域：1.材料科學(xué)：用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、相組成、元素分布等。例如，可以觀察金屬材料的晶粒尺寸、形狀和取向，以及合金中的第二相析出；也可以分析陶瓷材料的微觀形貌和成分變化。2.冶
2025
04-17

飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)的主要組成部分
飛納臺式電鏡能譜一體機(jī)是一種分析儀器，它將掃描電子顯微鏡(SEM)與能量色散X射線光譜儀(EDS)集成在一起，能夠在微觀尺度上對材料進(jìn)行形貌觀察和成分分析。1.掃描電子顯微鏡(SEM)：利用聚焦的電子束掃描樣品表面，激發(fā)樣品表面產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號，通過探測器收集這些信號并轉(zhuǎn)換為圖像，從而獲得樣品表面的形貌信息。電子束斑越小，分辨率越高，能夠觀察到更細(xì)微的表面細(xì)節(jié)。2.能量色散X射線光譜儀(EDS)：當(dāng)高能電子束或X射線激發(fā)樣品中的元素時，元素會發(fā)射出具有特定能量的X射線。EDS通過探

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