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2025
04-08超薄 TEM 制樣新范式｜Gentle Mill 離子精修儀賦能優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)
在材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域，精確制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡（TEM）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）樣品是實(shí)現(xiàn)原子級分辨率成像和分析的關(guān)鍵。TechnoorgLinda公司生產(chǎn)的GentleMill離子精修儀以低能量離子束技術(shù)，為科研人員提供了一種高效、清潔的樣品精修解決方案，廣泛應(yīng)用于各種材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能研究。本文精選了11篇使用GentleMill離子精修儀發(fā)表的文獻(xiàn)期刊（排名不分先后），展示了該設(shè)備在材料科學(xué)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用和顯著成就。01.鈣釕氧化物超薄膜中異常尺寸效應(yīng)的增強(qiáng)關(guān)鍵詞：超常2025
03-312025
03-28納米粒子表面工程新突破：原子層刻蝕調(diào)控 ALD 包覆顆粒殼層厚度
核殼納米粒子因其不同的表面和體積特性，在多個領(lǐng)域具有重要應(yīng)用。通過改變殼層的厚度和材料，可以調(diào)節(jié)納米粒子的性質(zhì)。科羅拉多大學(xué)（ForgeNano粉末原子層沉積技術(shù)發(fā)源地）StevenGeorge等人使用自行搭建的旋轉(zhuǎn)床粉末原子層沉積設(shè)備和原子層刻蝕（ALE）技術(shù)精確控制了TiO/ZrO核殼納米粒子中ZrO殼層的厚度。通過在200°C下進(jìn)行的旋轉(zhuǎn)反應(yīng)器中的ALD和ALE操作，實(shí)現(xiàn)了對ZrO殼層厚度從5.9至27.1nm的調(diào)節(jié)。研究表明，ALD和ALE技術(shù)能夠在不引起納米粒子聚集的情況下調(diào)控ZrO殼2025
03-25飛納桌面掃描電鏡在多個領(lǐng)域中均發(fā)揮著重要作用
飛納桌面掃描電鏡以其小巧的體積、簡便的操作、快速的抽真空能力和相對親民的價格，在多個領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。它不僅能夠滿足常規(guī)的材料微觀結(jié)構(gòu)觀察和元素成分分析需求，還因其便攜性和靈活性而成為教學(xué)科研和工業(yè)質(zhì)量控制中的得力助手。飛納桌面掃描電鏡的使用注意事項(xiàng)：1.操作安全：-遵守規(guī)程：嚴(yán)格按照掃描電鏡的操作規(guī)程進(jìn)行操作，不得隨意拆卸、改裝或破壞儀器。在操作過程中，要注意輕拿輕放，避免對儀器造成沖擊或振動。-防觸電：由于掃描電鏡通常使用高壓電源，因此在操作過程中要注意防止觸電。在接觸儀器之前，應(yīng)確保手部2025
03-20突破傳統(tǒng)檢測瓶頸！顯微CT如何助力高效農(nóng)業(yè)研究？支持付費(fèi)測試！
農(nóng)業(yè)科學(xué)的發(fā)展依賴于高效、精準(zhǔn)的檢測技術(shù)，以優(yōu)化作物生長環(huán)境、提高種子質(zhì)量、改良農(nóng)作物品種。傳統(tǒng)的農(nóng)業(yè)檢測方法，如光學(xué)顯微鏡、石蠟切片、激光共聚焦顯微鏡等，往往局限于二維成像，且檢測過程耗時費(fèi)力，難以全面呈現(xiàn)作物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。顯微CT（Micro-CT）技術(shù)作為一種高分辨率、非破壞性的三維成像手段，在農(nóng)業(yè)研究中展現(xiàn)出巨大的潛力。該技術(shù)利用X射線穿透樣品并獲取各個角度的投影數(shù)據(jù)，通過計(jì)算機(jī)重建獲得三維結(jié)構(gòu)信息，為作物內(nèi)部結(jié)構(gòu)、種子質(zhì)量檢測、根系研究、害蟲檢測等提供了分析能力。Chapter.1為什么2025
03-192025
03-182025
03-18飛納鋼鐵夾雜物系統(tǒng)助力高錳鋼性能分析：從微觀洞察到工藝優(yōu)化的全鏈條賦能
高錳鋼（HighManganeseSteel）是一種以錳（11%-14%）和碳（1.0%-1.4%）為主要合金元素的高強(qiáng)度合金鋼，因其加工硬化特性（受沖擊或壓力后表面硬化，內(nèi)部保持韌性）和優(yōu)異的耐磨性、抗沖擊性，被廣泛應(yīng)用于多個工業(yè)領(lǐng)域。隨著全球汽車行業(yè)對節(jié)能減排和輕量化需求的急劇攀升，根據(jù)國際能源署（IEA）數(shù)據(jù)，交通運(yùn)輸領(lǐng)域的碳排放占全球總量的24%，而汽車輕量化是降低能耗的核心路徑之一。每減輕10%的車身重量，可降低6%-8%的燃油消耗，因此，在汽車的鋼材方面，高錳鋼因其優(yōu)異的強(qiáng)度和延展性2025
03-17響應(yīng)原子制造戰(zhàn)略，F(xiàn)orge Nano 領(lǐng)航粉末 ALD 新紀(jì)元！支持代包覆服務(wù)！
工業(yè)和信息化部在《原子級制造揭榜掛帥任務(wù)榜單》將“粉體原子級包覆技術(shù)與裝備”列為重點(diǎn)攻關(guān)方向，明確提出“到2026年實(shí)現(xiàn)10kg/批次”的目標(biāo)，直指行業(yè)痛點(diǎn)。粉體原子層沉積（ALD）技術(shù)，憑借其原子級精度、三維均勻包覆與工藝可擴(kuò)展性，成為破局關(guān)鍵。PART.ONE原子制造的變革：粉末原子層沉積(PALD)技術(shù)當(dāng)“原子制造”一詞被提起，仍會將其與半導(dǎo)體平面工藝緊密關(guān)聯(lián)——那些在硅片上精準(zhǔn)堆疊的納米薄膜、為芯片性能賦能的原子級溝槽結(jié)構(gòu)，似乎定義了原子制造的邊界。然而，在材料科學(xué)的多維世界中，一場更廣2025
03-13用戶成果分享｜劍橋大學(xué)《EES》:Al?O? 涂層到底憑什么拯救NMC811
發(fā)表文章：IdentificationofthedualrolesofAl2O3coatingsonNMC811-cathodesviatheoryａndexperiment發(fā)表期刊：Energy&EnvironmentalScience原文鏈接：DOI：10.1039/D4EE03444APart.1摘要在本篇研究中，英國劍橋大學(xué)ClareP.Grey教授等人使用ForgeNanoPROMETHEUS流化床原子層沉積（ALD）技術(shù)制備氧化鋁涂層，探究其在富鎳正極材料NMC811（LiNi0.82025
03-05終于有人把 ECCI 講透了！一文搞懂掃描電鏡背散射電子通道襯度成像！
背散射電子成像掃描電鏡成像主要是利用樣品表面的微區(qū)特征，如形貌、原子序數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)或位向等差異，在電子束作用下產(chǎn)生不同強(qiáng)度的物理信號，使熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度，從而獲得具有一定襯度的圖像。當(dāng)電子束和試樣表層發(fā)生作用時，會產(chǎn)生大量的背散射電子，這些背散射電子襯度包含三種信息：樣品表層形貌信息，凸起、尖銳和傾斜面的背散射電子多，探頭接收到的信號強(qiáng)，圖像較亮，即形貌襯度(topographycontrast)；原子序數(shù)信息，原子序數(shù)越大，背散射電子越多，探頭接收到的信號越強(qiáng)，反映在圖像上就2025
02-252025
02-19臺式掃描電鏡在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用日益廣泛
臺式掃描電鏡(ScanningElectronMicroscopy，SEM)是一種利用電子束掃描樣品表面并收集二次電子信號來生成高分辨率圖像的顯微鏡，主要由電子槍、電磁透鏡系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)和探測器等部分組成。工作時，電子槍產(chǎn)生一束極細(xì)的高能電子束，經(jīng)過電磁透鏡聚焦后，掃描樣品表面。當(dāng)電子束撞擊樣品時，會激發(fā)樣品表面產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號，這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)換為電信號，再通過顯示器呈現(xiàn)出樣品表面的形貌圖像。臺式掃描電鏡的特點(diǎn)：1.高分辨率：能夠提供比光學(xué)顯微鏡更高的分辨率，通常2025
02-172025 科研開局，沒這六大儀器？你可能已經(jīng)落后了！
選型指南隨著2025年國家自然科學(xué)基金原創(chuàng)探索計(jì)劃項(xiàng)目申請指南的發(fā)布，科研界再次迎來了一波新的機(jī)遇與挑戰(zhàn)！面對這些機(jī)遇，除了創(chuàng)新的學(xué)術(shù)思想，選擇合適的工具更您助您掌握通向成功的鑰匙。?復(fù)納科技六大明星產(chǎn)品：飛納臺式掃描電鏡TechnoorgLinda制樣設(shè)備離子研磨儀NEOSCAN高分辨臺式顯微CTDENSsolutions原位透射樣品桿ForgeNano粉末原子層沉積系統(tǒng)VSParticle納米氣溶膠沉積系統(tǒng)這些儀器在2024年創(chuàng)造了多個里程碑時刻，為科研和工業(yè)研發(fā)提供了高效、精確的微觀表征與2025
01-222025
01-202025
01-072025
01-06一文了解離子研磨儀制備掃描電鏡（SEM）樣品的詳細(xì)流程與原理
離子研磨儀制備掃描電鏡（SEM）樣品的詳細(xì)流程與原理離子研磨是一種高精度的樣品表面制備技術(shù)，廣泛用于需要高分辨率顯微觀察的樣品制備，特別是那些容易受機(jī)械應(yīng)力影響的材料，如半導(dǎo)體、陶瓷、復(fù)合材料等。以下將詳細(xì)闡述離子研磨樣品制備的原理、流程、參數(shù)設(shè)置以及實(shí)際案例。??1.離子研磨的基本原理離子研磨是通過惰性氣體離子束（通常是氬離子Ar?）轟擊樣品表面，將樣品表面的微小層逐漸去除，從而獲得無應(yīng)力變形、無機(jī)械損傷且高度平整的表面。1.1離子研磨的核心部件離子源：通過電場加速氬離子（Ar?），形成高能量2025
01-032025
01-02數(shù)學(xué)為什么重要？用公式解釋掃描電鏡低電壓觀察不導(dǎo)電樣品的優(yōu)勢
什么是荷電效應(yīng)？掃描電子顯微鏡主要用于樣品表面微觀形貌觀察，但在觀察樣品過程中經(jīng)常由于荷電效應(yīng)使得圖像異常變亮、畸變，甚至出現(xiàn)圖像模糊的情況，嚴(yán)重影響成像質(zhì)量。圖1固體絕緣材料的電子發(fā)射特性曲線。橫坐標(biāo)為入射電子能量，縱坐標(biāo)為試樣的電子產(chǎn)率。荷電現(xiàn)象可以用基爾霍夫電流定律表示，即在任一瞬時流向某一結(jié)點(diǎn)的電流之和等于由節(jié)點(diǎn)流出的電流之和?？捎靡韵鹿奖磉_(dá)：其中Ip是入射電子的電流，δIb是背散射電子和二次電子的電流之和，Isc是樣品接地電流，Q為時間t內(nèi)的放電電荷。圖1絕緣體次級發(fā)射曲線對于絕緣材掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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