德國費希爾 X 射線熒光測厚儀 XULM240，是一款在材料檢測領(lǐng)域備受矚目的精密儀器。

它配備微聚焦 X 射線管，焦點尺寸≤50μm，配合可電動切換的準直器，最小測量點直徑僅 0.1mm ，能精準測量半導(dǎo)體芯片金線鍍層、精密傳感器電極等微型結(jié)構(gòu)。其比例計數(shù)器探測器實現(xiàn)高計數(shù)率，結(jié)合費希爾基本參數(shù)法，無需標準片即可完成高精度測量，如 80nm 金鍍層的重復(fù)精度可達 2.5nm ，鍍層厚度測量精度達納米級。

XULM240 還內(nèi)置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡，支持 38x - 184x 光學(xué)變焦，可實時觀察樣品表面細節(jié)并標記測量區(qū)域，定位精度達 ±0.005mm 。通過 WinFTM® 軟件，能預(yù)設(shè)測量程序（最多 100 組），進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析并生成報告，滿足 ISO 9001 等質(zhì)量管理體系要求。

在應(yīng)用上，它適用于線路板行業(yè) Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等鍍層測量；電子行業(yè)接插件和觸點的鍍層測量；裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 測量；批量生產(chǎn)部件（螺絲和螺母）防腐鍍層如 Zn/Fe、ZnNi/Fe 測量；珠寶和手表行業(yè)以及測定電鍍槽中的金屬含量等領(lǐng)域，為各行業(yè)的質(zhì)量管控與生產(chǎn)過程控制提供有力支持。