Zeta納米電位儀的測(cè)量精度如何？

來源：珠海歐美克儀器有限公司 2025年07月23日 08:48

　　Zeta納米電位儀通常是指同時(shí)具備納米粒度分析和Zeta電位測(cè)量功能的光散射類儀器，其核心用途是表征膠體、納米顆?；蛏锎蠓肿釉谌芤褐械牧椒植己捅砻骐姾桑╖eta電位），從而評(píng)估體系穩(wěn)定性和分散行為。

　　Zeta納米電位儀的測(cè)量精度取決于儀器型號(hào)和測(cè)量技術(shù)，但主流設(shè)備在粒度和Zeta電位兩項(xiàng)指標(biāo)上均具備亞微米級(jí)甚至納米級(jí)的高精度表現(xiàn)，具體如下：

　　粒度測(cè)量精度

　　典型精度：±1%（相對(duì)誤差）

　　高級(jí)型號(hào)：通過多角度動(dòng)態(tài)光散射（MADLS）技術(shù)，分辨率更高，重復(fù)性顯著提升

　　驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)：使用NIST可追溯膠乳標(biāo)準(zhǔn)品，準(zhǔn)確度可達(dá)±2%

　　Zeta電位測(cè)量精度

　　典型精度：±3%（相對(duì)誤差）

　　高靈敏度技術(shù)：采用PALS（相位分析光散射）或M3-PALS技術(shù)，靈敏度提升1000倍，適用于低遷移率或高鹽樣品

　　實(shí)測(cè)驗(yàn)證：以NISTSRM1980標(biāo)準(zhǔn)水性體系為例，Zeta電位測(cè)得值為2.53±0.12μm·cm/V·s，誤差小于5%

　　關(guān)鍵影響因素

　　溫控精度：±0.1°C，有效減少熱漂移誤差

　　最小樣品量：部分型號(hào)僅需20–50μL，降低稀釋誤差

　　電導(dǎo)率范圍：最高支持260mS/cm，適應(yīng)高鹽體系

　　如需進(jìn)行高精度Zeta電位測(cè)量，建議使用具備PALS或M3-PALS技術(shù)的型號(hào)，并確保樣品分散均勻、濃度適中。

zeta納米電位儀

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