華高儀器于2025年07月18日發(fā)布了文章【日本愛斯佩克TSD-101-W：冷熱沖擊試驗設備】。

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在電子、軍工等領域，產品在不同溫度環(huán)境下的性能穩(wěn)定性至關重要，高低溫冷熱沖擊試驗箱是評估產品耐受溫度急劇變化能力的重要設備。日本愛斯佩克ESPEC推出的TSD-101-W高低溫冷熱沖擊試驗箱，在保持試驗效果的同時，在空間利用、操作便捷性等方面展現(xiàn)出特點，成為相關行業(yè)試驗工作中的實用設備。

1. 設計與空間優(yōu)勢

TSD-101-W在設計上兼顧了內部空間與整體尺寸的平衡。其內部空間達到28英寸x16英寸x13.5英寸（710x410x345毫米），內部體積為3.5立方英尺（100升），能滿足一定數量樣品的試驗需求。同時，系統(tǒng)嚴格控制整體尺寸，外部尺寸為44英寸x78英寸x75英寸（1100x1970x1890毫米），與傳統(tǒng)設備相比，占地面積減少了40%，更適合空間有限的實驗室或生產場地使用。

2. 智能控制與操作優(yōu)化

該設備升級到最新的觸摸屏控制器，配備7英寸屏幕并支持以太網接入，程序和數據的上傳/下載可通過網絡完成，操作更為便捷。其的樣品溫度觸發(fā)（STT）功能，能主動監(jiān)控產品溫度，僅當產品達到所需溫度時，程序才進入下一步，還可根據測試產品數量調整浸泡時間，動態(tài)減少整體測試時間。此外，冷卻模式允許操作員在測試完成后快速安全地取出樣本，提升了操作的安全性和效率。

3. 結構與細節(jié)設計

- 柔性電纜管道從側面伸出（用于監(jiān)控或為樣品供電），不同于傳統(tǒng)的頂部移動管道設計，更便于樣品連接與管理。

- 可選配窗口，方便檢查樣品狀態(tài)，滿足試驗過程中的觀察需求。

4. 規(guī)格與性能參數

- 溫度范圍：-77至205攝氏度（-105至400華氏度），能覆蓋多種高低溫沖擊測試需求。

- 測試性能示例：依據標準883 1010.7，在-65至150攝氏度范圍，對22磅集成電路芯片進行測試，恢復時間為15分鐘（最壞情況下的產品）。

- 電源要求：主電源為北美標準208V，國際備用電源可選200V、220V、380V或415V。

- 水冷需求：峰值時每分鐘9加侖（具體可詢問詳情）。

- 噪聲控制：最大聲級（1米遠）低于65dB，實現(xiàn)安靜操作，減少對環(huán)境的干擾。

5. 可用選項

設備提供多種可選配置，包括帶彩色顯示和壓縮閃存的無紙記錄儀、條帶錄音機、計算機接口（IEEE-488或RS-232）、觀察孔、額外的STT熱電偶輸入以及附加柔性電纜管等，可根據實際需求靈活選擇。

日本愛斯佩克ESPEC TSD-101-W高低溫冷熱沖擊試驗箱，憑借緊湊的設計、智能的控制功能及穩(wěn)定的性能，為電子芯片等產品的安全性能測試提供了可靠支持，在相關行業(yè)的質量檢測環(huán)節(jié)發(fā)揮著實用價值。

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