泰勒CCI MP 小尺寸自動(dòng)光學(xué)輪廓儀信息

高精度與高分辨率

垂直測(cè)量精度高，<0.2 埃 RMS 重復(fù)性、<0.1% 臺(tái)階高度可重復(fù)性，且在全量程內(nèi)保持 0.1 埃分辨率，能捕捉到納米級(jí)甚至更小的表面細(xì)節(jié)，適用于精密制造（如半導(dǎo)體、光學(xué)元件）的表面粗糙度、臺(tái)階高度等關(guān)鍵參數(shù)檢測(cè)。

配備 1048 x 1048 像素陣列，實(shí)現(xiàn)高分辨率與大視場(chǎng)的結(jié)合，可同時(shí)獲取大范圍區(qū)域的精細(xì)表面數(shù)據(jù)，減少拼接次數(shù)，提升效率。

寬測(cè)量范圍與靈活拼接

垂直測(cè)量范圍達(dá) 2.2 毫米，滿足不同厚度、臺(tái)階的測(cè)量需求；通過(guò)改進(jìn)的 X、Y、Z 軸拼接技術(shù)，測(cè)量范圍可擴(kuò)展至 100 毫米，能應(yīng)對(duì)大尺寸工件（如平板顯示面板、航空航天部件）的全域表面分析。

可靠的測(cè)量穩(wěn)定性

角度靈敏度提升，減少環(huán)境干擾（如振動(dòng)、溫度波動(dòng)）導(dǎo)致的測(cè)量不確定性，數(shù)據(jù)質(zhì)量更穩(wěn)定；FEA（有限元分析）優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計(jì)，確保設(shè)備具有出色的重復(fù)性與再現(xiàn)性（R&R），滿足工業(yè)質(zhì)量控制的嚴(yán)格要求。

設(shè)備設(shè)計(jì)與成本優(yōu)勢(shì)

耐用性與低成本維護(hù)

采用無(wú)壓電式 Z 軸掃描儀設(shè)計(jì)（此處描述與前文 “帶閉環(huán)壓電 Z 軸掃描儀” 可能存在表述差異，需以實(shí)際設(shè)備為準(zhǔn)），若為無(wú)壓電設(shè)計(jì)，則可避免壓電元件的老化、損耗問(wèn)題，大幅降低昂貴的維修費(fèi)用，適合長(zhǎng)期高頻使用場(chǎng)景。

堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)結(jié)合自動(dòng)表面檢測(cè)功能，能防止鏡頭與工件碰撞損壞，延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命。

合規(guī)性與標(biāo)準(zhǔn)化

依據(jù) ISO 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)，測(cè)量結(jié)果具有威性和通用性，可被行業(yè)內(nèi)廣泛認(rèn)可，適用于國(guó)際貿(mào)易、合作研究等需要統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)景。

易用性與智能化功能

操作便捷與低誤操作風(fēng)險(xiǎn)

配備內(nèi)置自我診斷工具，便于快速排查故障，減少停機(jī)時(shí)間；操作流程簡(jiǎn)化，結(jié)合 Windows 7 64 位系統(tǒng)，降低操作人員誤操作概率，即使是新手也能快速上手。

多語(yǔ)言支持與兼容性

支持中文、日文等多語(yǔ)言，適配不同地區(qū)用戶；與多數(shù) PC 平臺(tái)兼容，方便合作研究項(xiàng)目中的數(shù)據(jù)共享與協(xié)同分析。

進(jìn)階分析與自動(dòng)化功能

新增 3D 表面的 4D 分析工具，可追蹤表面隨時(shí)間的變化（如材料老化、磨損過(guò)程），適用于長(zhǎng)期可靠性測(cè)試；支持批量測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)報(bào)告生成，提升質(zhì)檢流程的自動(dòng)化程度，適合大規(guī)模生產(chǎn)的高效質(zhì)量管控。

適用場(chǎng)景

該設(shè)備可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、光學(xué)元件加工、精密機(jī)械、航空航天等領(lǐng)域，尤其適合對(duì)表面質(zhì)量要求高的場(chǎng)景，既能滿足實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的科研分析，也能適配工廠生產(chǎn)線的批量質(zhì)檢需求，兼顧高精度與成本效益。