絕對式光柵尺的分辨率與測量精度深度解讀

來源：蘇州德美達精密儀器儀表有限公司 2025年07月14日 17:00

　　絕對式光柵尺的分辨率與測量精度是衡量其性能的關(guān)鍵指標，兩者密切相關(guān)但存在本質(zhì)區(qū)別。以下從定義、影響因素、技術(shù)實現(xiàn)及應用場景等方面進行深度解讀：

　　一、絕對式光柵尺核心概念解析：

　　1.分辨率

　　定義：光柵尺能夠區(qū)分的最小位置變化量，即相鄰兩個刻線之間的物理距離。

　　示例：若分辨率為1μm，表示光柵尺可檢測到1μm的位移變化。

　　技術(shù)基礎(chǔ)：由光柵柵距決定。例如，柵距為20μm的光柵，通過細分技術(shù)（如4倍細分）可將分辨率提升至5μm。

　　2.測量精度

　　定義：實際測量值與真實值之間的最大偏差，包括系統(tǒng)誤差和隨機誤差。

　　示例：標稱精度為±1μm，表示測量結(jié)果可能在真實值±1μm范圍內(nèi)波動。

　　關(guān)鍵限制：受光柵制造誤差、安裝誤差、環(huán)境因素（溫濕度、振動）等影響。

　　二、絕對式光柵尺分辨率的實現(xiàn)機制：

　　1.光柵原理

　　物理柵距：光柵上均勻分布的刻線間距，決定基礎(chǔ)分辨率。

　　細分技術(shù)：通過光電信號插值將柵距分割為更小單位。

　　2.信號處理

　　莫爾條紋效應：主光柵與指示光柵疊加形成放大的莫爾條紋，提升電子判別精度。

　　IC芯片與算法：內(nèi)置電路對原始信號進行細分和噪聲濾波，輸出高精度脈沖或數(shù)字信號。

　　三、絕對式光柵尺測量精度的影響因素：

　　1.系統(tǒng)誤差

　　光柵制造誤差：刻線均勻性、直線度偏差會導致周期性誤差。

　　安裝誤差：光柵尺與運動軸不平行、夾緊變形等引入阿貝誤差。

　　標定誤差：校準時參考基準的精度限制。

　　2.環(huán)境誤差

　　熱膨脹：光柵材料（如玻璃、鋼）與被測件熱膨脹系數(shù)不同，導致溫度每變化1°C可能產(chǎn)生±0.01μm/m的誤差。

　　振動與加速度：動態(tài)測量中，光柵抖動或信號延遲可能導致±0.1μm級誤差。

　　3.電子噪聲

　　信號采集電路的噪聲、電源干擾等會降低信噪比，影響低位比特的穩(wěn)定性。

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