粒度測試的精度受方法原理、儀器性能、樣品特性及操作規(guī)范等多重因素影響。以下從精度來源、影響因素、提升方法及典型方法精度對比四個方面系統(tǒng)闡述:
粒度測試精度的核心來源:
方法原理的局限性
激光衍射法:基于米氏散射理論,假設顆粒為球形且均勻分散。對于非球形顆粒(如纖維、片狀顆粒)或寬分布樣品,理論模型與實際存在偏差,導致精度下降。
動態(tài)光散射法(DLS):依賴顆粒布朗運動,對大顆粒(>1μm)或高濃度樣品易出現(xiàn)多重散射,影響結果準確性。
圖像分析法:依賴顆粒圖像清晰度及算法識別能力,對重疊顆粒或透明顆粒的識別精度有限。
儀器性能的差異
分辨率:儀器(如Malvern Mastersizer 3000)的光學系統(tǒng)分辨率更高,可區(qū)分更接近的粒徑;低端儀器可能將相近粒徑合并統(tǒng)計。
重復性:精密儀器(如RSD<1%)的重復性優(yōu)于普通儀器(RSD>3%),尤其對微小粒徑變化更敏感。
檢測范圍:部分儀器(如電阻法)對特定粒徑范圍(如0.4-1200μm)精度更高,超出范圍時誤差增大。
樣品特性的干擾
團聚:顆粒團聚會導致測量值偏大,分散性差的樣品精度顯著降低。
密度與形狀:高密度顆粒沉降快,可能被誤判為大粒徑;非球形顆粒的等效球徑計算存在誤差。
折射率匹配:激光衍射法需輸入顆粒與分散介質(zhì)的折射率,若參數(shù)不匹配,結果偏差可達10%-30%。
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