北京鴻達天矩試驗設備有限公司所生產的高低溫試驗箱所滿足的標準有：GB/T2423.1-2008  GB/T2423.2-2008等標準，也可根據(jù)客戶的要求非標定做。

GB/T2423.1-2008電子電工產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版無實質性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調節(jié)期間都要通電運行的設備。

本低溫試驗的目的于用來確定元件、設備或其他產品在低溫環(huán)境下使用，運輸或貯存的能力。

本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22。

本低溫試驗方法細分為以下幾種：

—非散熱試驗樣品低溫試驗：

試驗Ab，溫度漸變。 

—散熱試驗樣品低溫試驗：

試驗Ad，溫度漸變。

試驗Ae，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。

本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

GB/T2423.1-2008電子電工產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T2423.2-2008適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版無實質性的差異。

本低溫試驗的目的于用來確定元件、設備或其他產品在低溫環(huán)境下使用，運輸或貯存的能力。

本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB/T2423.22。

本低溫試驗方法細分為以下幾種：

—非散熱試驗樣品低溫試驗：

試驗Bb，溫度漸變。 

—散熱試驗樣品低溫試驗：

試驗Bd，溫度漸變。

試驗Be，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。

本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

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