X熒光光譜儀特點

　　1. X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
2. 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
3. X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分 辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
4. 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
5. 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
6. 分析精密度高。

我公司主打X熒光光譜儀：能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-GP，此款產(chǎn)品有以下幾大優(yōu)點：

1. 可以替代傳統(tǒng)的ICP測試方法.
2. 大型樣品倉：zui大可裝370mm×320mm×155mm的樣品.
3. 適應(yīng)固體、液體、粉體、薄膜等各種類型的樣品.
4. 無需前處理,非破環(huán)性,快速分析（30秒～5分鐘）;
5. 準(zhǔn)確的定性分析；元素測定范圍寬從Na11～U92;
6. 的定量分析,根據(jù)不同元素.可到1.7PPM～3.7PPM;
7. 配置高計數(shù)率電路,增加檢測器的計數(shù)量.
8. 配置新型濾光片,提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍.
9. 增加自動工作曲線選擇功能,依據(jù)識別樣品種類的不同而選擇zui適宜的工作曲線.
10. 增加時間縮短功能,由熒光X射線強度算出測定精度,自動判斷所需zui少測定時間.