機(jī)械雜質(zhì)測定儀主要用于測定液體、氣體或其他物質(zhì)中含有的機(jī)械雜質(zhì)（如固體顆粒、沉淀等）。它的工作原理根據(jù)不同的應(yīng)用場景和儀器類型有所不同，但通常包括以下幾個基本原理和方法：

1. 光學(xué)原理

許多機(jī)械雜質(zhì)測定儀利用光學(xué)原理來檢測雜質(zhì)的存在，通常是通過光束的散射或吸收來判斷雜質(zhì)的濃度。這類設(shè)備通過一個激光或光源發(fā)出一定波長的光束，當(dāng)光束經(jīng)過液體樣品時，液體中的雜質(zhì)顆粒會引起光的散射。光的散射強(qiáng)度與雜質(zhì)的數(shù)量和顆粒大小成正比，因此，通過測量散射光的強(qiáng)度，可以間接得出雜質(zhì)的濃度。

典型設(shè)備： 光透過率測定儀、激光散射粒度儀等。

2. 重量法

一些機(jī)械雜質(zhì)測定儀使用過濾法與稱重法相結(jié)合來測定液體中的雜質(zhì)含量。該方法首先通過過濾器過濾液體，過濾器會捕捉到固體雜質(zhì)。過濾后，通過對過濾器上捕集雜質(zhì)的質(zhì)量進(jìn)行稱重，可以計算出樣品中雜質(zhì)的含量。

流程：

先稱量一個干凈的過濾器。

將液體通過過濾器。

然后再稱量過濾器，得出雜質(zhì)的質(zhì)量。

最后，通過計算過濾前后質(zhì)量的差值來得出雜質(zhì)的含量。

3. 沉降法

沉降法基于不同粒子的沉降速度不同的原理。樣品中雜質(zhì)顆粒通過某種方式沉降在容器底部，沉降的顆?？梢酝ㄟ^顯微鏡觀察或通過設(shè)備測量沉降的速度和量，從而推算出液體中的雜質(zhì)濃度。

原理： 根據(jù)斯托克斯定律，沉降速度與顆粒的大小、密度、流體的粘度及重力加速度有關(guān)。通過測量顆粒的沉降速率，可以分析樣品中機(jī)械雜質(zhì)的類型和含量。

4. 電阻法

機(jī)械雜質(zhì)測定儀也可能通過測量電流變化來檢測雜質(zhì)的濃度。例如，在一個電導(dǎo)率測量系統(tǒng)中，液體的電導(dǎo)率會受到懸浮顆粒的影響。顆粒越多，液體的電導(dǎo)率會有所變化。通過測量電導(dǎo)率的變化，可以間接推測出雜質(zhì)的濃度。

典型設(shè)備： 電導(dǎo)率傳感器、阻抗分析儀等。

5. 顆粒計數(shù)法

顆粒計數(shù)法通過對液體樣品中的顆粒進(jìn)行計數(shù)來確定雜質(zhì)含量。通常通過電子顯微鏡或激光粒度計進(jìn)行顆粒的精確測量和計數(shù)。這種方法可以有效地測定顆粒的數(shù)量、大小以及分布情況。

典型設(shè)備： 激光粒度儀、光散射粒度計等。