本測試儀能測試或判斷封裝的可控硅和雙向可控硅的斷態(tài)漏電流、反向漏電流、門，觸發(fā)電流、門，觸發(fā)電壓、陰，門，漏電流、通態(tài)壓降、通態(tài)平均電流、維持電流等參數(shù)。
本測試儀具有人工測試和接分選機自動測試等測試方式。人工測試時，與測試盒相連，在測試狀態(tài)下，插入器件后，就開始測試，由人工根據(jù)顯示的分檔數(shù)進行分選；自動測試時，與分選機相連，由分選機輸出的“開始測試信號”控制，對器件進行測試，并把分檔結(jié)果送至分選機。
本測試儀內(nèi)部預置可修改的方案，開機即可進行測試。用戶也能夠瀏覽并打印測試結(jié)果。本測試儀適合于生產(chǎn)廠家對封裝的可控硅和雙向可控硅進行批量測試，也適合于應用廠家的篩選測試。
指    標
測試分辨率
漏 電 流：0.1uA
觸發(fā)電流：0.1uA
觸發(fā)電壓：0.01V
通態(tài)平均電流：1mA
維持電流： 0.1mA
%項測試時間
測試斷態(tài)漏電流：≤20mS
測試反向漏電流：≤30mS
測試觸發(fā)電流：≤30mS
測試觸發(fā)電壓：≤20mS
測試陰，門，漏電流：≤30mS
測試通態(tài)壓降：≤30mS
測試通態(tài)平均電流：≤50mS
測試維持電流：≤50mS