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光源作為一種基礎(chǔ)的設(shè)備，在光通信、激光雷達(dá)、激光切割、激光醫(yī)療等各行各業(yè)廣泛使用。在光源的研發(fā)、生產(chǎn)和測試過程中，面臨測試速度慢、邊模小信號尋找難、測試效率低等突出的問題。為解決上述問題，思儀科技的Ceyear 6362D光譜分析儀開發(fā)了針對性的測試功能。
2.解決精準(zhǔn)測試問題
在研發(fā)過程中，需要更精準(zhǔn)的測試，Ceyear 6362D在“HIGH3”靈敏度下，動態(tài)范圍最高可達(dá)78dB，可測得-90dBm的光譜，能夠探測到功率更低的光信號，從而分辨出被淹沒的邊摸等小信號。
3.提升測試效率的途徑
Ceyear 6362D提供多種自動分析功能，例如DFB光源分析功能（如下圖中所示）、LED光源分析功能、FP光源分析功能等，一次自動分析就可以得到多項激光器指標(biāo)。同時，相關(guān)參數(shù)和測試結(jié)果也支持通過LAN、GPIB遠(yuǎn)程控制，可以大大提高測試效率。
作為新一代、高性能近紅外光譜分析儀，Ceyear 6362D在大幅度提升測試效率的同時，測試分辨率、動態(tài)范圍得到大幅度提升，更加滿足各類光源的測試分析需求，為用戶提供更好的測試體驗。
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