工作范圍在可見光，近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業(yè)，國防，安全，科研，環(huán)保，醫(yī)療等領域有著重要的應用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術(shù)：彩色或者單色制式的CCD, CMOS. ICCD, EMCCD, EBAPS, sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達到1000nm。

InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段：非制冷類型工作在900nm-1700nm；制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。

Inframet提供一組三套用于測試VIS-SWIR成像探測器的測試系統(tǒng)：VIT，SIT和SOL。

這些測試系統(tǒng)的設計理念和測試能力有所不同。 簡單來說，可以認為VIT是一套在VIS-SWIR范圍內(nèi)對幾十個帶寬進行連續(xù)調(diào)節(jié)光強的圖像投影系統(tǒng); SIT是一套可以連續(xù)調(diào)節(jié)光強和波長的標定光源; SOL是一套連續(xù)調(diào)節(jié)光強度和步進調(diào)節(jié)帶寬的標定光源。

編輯搜圖

VIT測試系統(tǒng)主要用于測試VIS-NIR光譜范圍內(nèi)十幾個光帶寬的成像質(zhì)量參數(shù)，輻射參數(shù)和光度學參數(shù); SIT測試系統(tǒng)主要用于測試在VIS-SWIR范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)波長的輻射參數(shù); SOL測試系統(tǒng)主要用于測試在VIS-SWIR范圍內(nèi)的光度學參數(shù)與步進調(diào)節(jié)波長下的輻射參數(shù)。