ensofar共聚焦白光干涉儀 | AI多焦面疊加技術

來源：北京儀光科技有限公司 2024年05月23日 16:43

Sensofar共聚焦白光干涉儀|多焦面疊加

主動照明多焦面疊加是一種為了測量粗糙的表面形狀而開發(fā)的光學技術。這項技術基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 測量領域的廣泛專業(yè)知識，專門設計用于補充低放大率下的測量

BACKGROUND

Sensofar共聚焦白光干涉儀|多焦面疊加原理

主動照明多焦面疊加技術利用了明場中存在景深的特點，

樣品只有在的特定 z 范圍中對焦。景深會根據物鏡的數值孔徑或光源波長而變化。

Z 高度的值是根據圖像的高對比度（清晰度或微小細節(jié)）來計算的

從而得出正確的對焦位置。

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