一、 面向SiC和GaN功率半導體柵極應力測試   

在SiC和GaN寬帶隙材料中，新故障機制的某些影響不會體現(xiàn)在傳統(tǒng)測試中，但會影響實際應用。

DGS測試（動態(tài)柵極應力）彌補了該認證差距，其要求明顯超出之前的測試程序，并且更具應用針對性。

DGS是一種使用快速電壓偏移來激勵柵子故障機制的測試。該測試系統(tǒng)涵蓋了所有相關的測試規(guī)范。此外，其運行自動化，并提供詳細的報告供進一步數(shù)據分析使用。

二、系統(tǒng)特性 

在DGS測試方面，可將行業(yè)擴展要求轉換為自動化動態(tài)測試。為滿足快速變化的需求，我們十分注重系統(tǒng)的靈活性。

除激勵外，DGS測試系統(tǒng)還提供多個原位測量，以確定規(guī)定時間段內的相關參數(shù)。這些原位測量有效地顯示了動態(tài)柵極應力對柵氧化物的長期影響，并支持您為客戶提供精確的說明。