作為衛(wèi)星通信系統(tǒng)的射頻工程師，需要測量功率放大器和變頻器等衛(wèi)星轉(zhuǎn)發(fā)器或組件的特性。典型測量包括增益壓縮、AM/AM、AM/PM 以及失真 NPR/ACLR。

使用矢量信號發(fā)生器及頻譜分析儀測量線性和增益轉(zhuǎn)移

將R&S®SMW200A矢量信號發(fā)生器及R&S®FSW矢量信號分析儀（配備R&S®FSW-K18選件）結(jié)合使用，可通過實際調(diào)制和分析來進行DUT特征校準。

R&S®FSW-K18可控制R&S®SMW200A，因此能夠讀取用于DUT的參考信號。使參考信號與DUT發(fā)射信號同步，以獲得準確的測量結(jié)果。

這種測量方法的主要優(yōu)勢包括：

? 可使用CW功率掃描作為參考信號或數(shù)字調(diào)制信號（具備適用于預期應用的帶寬和峰值因子）來測試設(shè)備，從而確定DUT在現(xiàn)實條件下將如何運行；

? 分析帶寬高達5GHz，可測量高帶寬的放大信號；

? 直接數(shù)字預失真（直接 DPD）可補償記憶效應，并有助于實現(xiàn)DUT（R&S®FSW-K18D選件）的最佳性能；

? 采用R&S®FSW-K18及R&S®SMW-K541支持基于多項式 /模型的DPD方法；

? 參數(shù)掃描可提供3D圖表，用于快速查找DUT的最佳工作點。

適用于借助 R&S®SMW-K541 及 R&S®FSW-K18 進行雙端口設(shè)備（如放大器、變頻器和轉(zhuǎn)發(fā)器）特征校準的緊湊型裝置

通過一次測量完成完整的雙端口設(shè)備特征校準。

3D 圖表（功率 /EVM/ 頻率）有助于快速確定DUT 的最佳工作點。

放大器的增益轉(zhuǎn)移曲線測量 (AM/AM)。在曲線中，R&S®SMW200A 數(shù)字基帶的 CW 斜波掃描用作激勵。正如預期，AM/AM 曲線呈直線型。

使用 R&S®SMW200A 生成的數(shù)字調(diào)制信號進行測量。AM/AM 為一條云狀曲線；線寬則為放大器記憶效應。