渦流陣列無(wú)損檢測(cè)有哪些優(yōu)勢(shì)？

渦流陣列（ECA）是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，具有以電子方式驅(qū)動(dòng)并排放置在同一個(gè)探頭組件中的多個(gè)渦流線圈的能力。探頭中每個(gè)單獨(dú)的渦流線圈都會(huì)產(chǎn)生一個(gè)相對(duì)于其下方結(jié)構(gòu)的相位和波幅的信號(hào)。這種數(shù)據(jù)與編碼位置和時(shí)間關(guān)聯(lián)，并以C掃描圖像形式表示。大多數(shù)傳統(tǒng)的渦流探傷技術(shù)都可以通過使用渦流陣列（ECA）檢測(cè)重現(xiàn)，不過，ECA技術(shù)具有顯著優(yōu)勢(shì)，可提高檢測(cè)能力，并大幅節(jié)省時(shí)間。

ECA技術(shù)包括以下優(yōu)勢(shì)特性：

·在保持高分辨率的同時(shí)，單次探頭掃查可以覆蓋更大的區(qū)域。

·不太需要復(fù)雜的機(jī)器人技術(shù)來(lái)移動(dòng)探頭，只需簡(jiǎn)單的手動(dòng)掃查就足以完成檢測(cè)。

·C掃描成像提高了缺陷探測(cè)和定量性能。

·可以使用根據(jù)被檢測(cè)工件的輪廓定制的探頭對(duì)具有復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)。

渦流陣列輔導(dǎo)穿透深度   

渦流密度在材料的整個(gè)深度上并不是一成不變的。表面的密度最大，隨著深度的增加，密度呈指數(shù)下降（“趨膚效應(yīng)”）。標(biāo)準(zhǔn)穿透深度方程（如右圖所示）用于解釋渦流檢測(cè)的穿透能力，即隨著頻率、電導(dǎo)率或滲透率的增加，穿透能力會(huì)下降。對(duì)于較厚的均質(zhì)材料，標(biāo)準(zhǔn)的穿透深度是渦流密度為材料表面值的37%時(shí)的深度。為了檢測(cè)材料中非常淺的缺陷，或?yàn)榱藴y(cè)量薄板的厚度，需要使用非常高的頻率。同樣，為了探測(cè)到表面以下的缺陷，或檢測(cè)高導(dǎo)電性、磁性或厚材料時(shí)，必須使用較低的頻率。

其中：

d = 標(biāo)準(zhǔn)穿透深度（mm）

f = 檢測(cè)頻率（Hz）

mr = 相對(duì)磁導(dǎo)率（無(wú)量綱）

s = 電導(dǎo)率（% IACS）