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紅外線氣體分析儀是如何實(shí)現(xiàn)測(cè)試的
紅外線氣體分析儀可以滿(mǎn)足CO以及CO2、NOx和CH4等各種檢測(cè)對(duì)象的需求?？梢詰?yīng)用于必須達(dá)到高效率、節(jié)省空間要求的研究開(kāi)發(fā)以及監(jiān)測(cè)公害的現(xiàn)場(chǎng)等，具有廣泛的用途 。
原理：紅外線氣體分析儀是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
1．比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面．強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：
(比爾定律)
式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度；
--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度；
k--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)；
C--待分析組分的氣體濃度；
L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)
對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度一定；氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出：通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
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