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coxem臺(tái)式掃描電鏡可用于評(píng)估金屬和相關(guān)涂層的形貌。BSE模式在這種情況下非常有用。例如帶有化學(xué)蝕刻的金屬上圖是鍍有鎳和金的銅樣品。由于鎳和銅具有相似的原子序數(shù)，因此很難區(qū)分兩者之間的界限。通過(guò)化學(xué)蝕刻，如右圖所示，可以輕松區(qū)分兩層。如果無(wú)法蝕刻，則可以在BSE模式下區(qū)分層。
背散射電子（BSE）BSE探測(cè)器可以輕松集成到COXEM的SEM中。BSE成像與SE成像一樣有用，尤其是在收集具有高原子序數(shù)對(duì)比度的圖像的成分和地形特征時(shí)。例如，當(dāng)查看染色或涂有重金屬的生物樣品時(shí)，BSE模式可用于比SE模式更明顯地檢測(cè)金屬。BSE圖像可以在高真空和低真空下獲得。
coxem臺(tái)式掃描電鏡在金屬表面下，金屬物體對(duì)于SEM成像幾乎不需要特殊的樣品制備。涂層不是必需的，因?yàn)樗鼈兪歉邔?dǎo)電性的。如果表面水平相似，則可能無(wú)法清楚地區(qū)分顆粒。為了解決這個(gè)問(wèn)題，可以使用BSE模式。BSE模式檢測(cè)表面上下的原子序數(shù)差異，因此可以輕松區(qū)分高原子序數(shù)粒子。
多晶線樣品是部分涂有銅和碳的多晶線。在高壓下拍攝圖像時(shí)，由于碳的原子序數(shù)低，無(wú)法看到碳涂層。為了解決這個(gè)問(wèn)題，降低加速電壓以查看表面上的附加信息。在低電壓下，很容易看到碳。
coxem臺(tái)式掃描電鏡成像快速，放置環(huán)境要求低，可隨意搬動(dòng)；支持不導(dǎo)電樣品直接觀察，不導(dǎo)電樣品可無(wú)需噴金直接測(cè)量；儀器形態(tài)：小型、桌面，可移動(dòng)，具有防震設(shè)計(jì)，擺放于普通實(shí)驗(yàn)室桌面使用，無(wú)需建立專(zhuān)用的抗震實(shí)驗(yàn)室或獨(dú)立的抗震臺(tái)，可不用減震裝置就能放置在二樓以上樓層；電子探測(cè)器類(lèi)型：高靈敏四分割背散射電子探測(cè)器和二次電子探測(cè)器。
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