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TEM固體熱-電樣品桿是在標準樣品臺基礎上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學模塊，在透射電鏡中實現樣品的皮米級高分辨成像。能夠在透射電鏡（TEM）內為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結構（例如原子結構）在氣氛環(huán)境中的演變過程，以直接揭示樣品結構與其氣固界面反應性質之間的科學關系。可有效提升科研人員科研水平，極大拓展透射電鏡TEM應用范圍。
加熱模塊：精準、均勻、安全控溫，溫度精度優(yōu)于0.1K，最高溫度1300℃。通過精確熱場模擬及芯片設計，實現無漂移加熱過程，可在加熱升溫過程中實現實時觀測成像。
電學（偏壓）模塊：實現電熱外場耦合反應。通過電極施加電場，對單個納米結構進行外場控制并進行電學性質的測量。通過電學控制器對樣品施加偏壓，配合電學系統控制程序用于保證微反應系統穩(wěn)定可靠運行的最基本要求，滿足每一臺系統設備的微環(huán)境—電流電壓添加及實時測量，以及實現遠程智能反應條件管理控制功能。該控制程序非常適合各種現代電子器件的電流、電壓特性分析和功能測試：功率半導體材料、功率器件、電化學、能源生產、高效能源消耗等。溫度高于800℃亦可同時進行加熱和電學實驗，且保持穩(wěn)定。
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