先進的納米顆粒測量系統(tǒng)

Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是先進的納米顆粒測量系統(tǒng)，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準確可靠的粒徑分析和計數(shù)功能，而且高達256原始通道能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求；桌面式簡便操作，易上手；連接方便，可靈活搭載各種預處理裝置（如稀釋裝置等）；開放式數(shù)據(jù)文件，讀取和分析便捷；可實現(xiàn)自檢測和校準；*兼容性和靈活性，可以跟市場主流計數(shù)器兼容等。

U-SMPS 2050X/2100X/2200X

Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本，可以確定 4 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了 X 射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），從而在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas® U-SMPS 系統(tǒng)包括一個分類器 [ 在 ISO15900 中定義為電遷移率分級器（DEMC），也稱為微分遷移率分析儀（DMA）]，可根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數(shù)器（例如 UF-CPC）對這些顆粒進行計數(shù)。三種可用的 UF-CPC 型號可在各種濃度范圍內(nèi)實現(xiàn)優(yōu)異的單顆粒計數(shù)。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德國）開發(fā)的演算算法，將測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為 U-SMPS 的顆粒分布。

U-SMPS 使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短 30 秒之內(nèi)執(zhí)行，并且每十進制多達 64 個尺寸通道。在掃描期間，DEMC 分類器中的電壓連續(xù)變化，以使每個尺寸通道的計數(shù)效率更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設備上設置線性或?qū)?shù)顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數(shù)據(jù)評估（各種統(tǒng)計和平均值），以及導出功能。U-SMPS 通常作為獨立設備運行，但也可以連接到計算機或使用各種接口（USB， LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接網(wǎng)絡。 Palas®U-SMPS 可配置 DMA，CPC 和其他制造商的氣溶膠靜電計。 

產(chǎn)品優(yōu)勢

• 粒徑分布范圍為 4nm 至 1.2μm；
• 連續(xù)快速掃描測量原理；
• 高分辨率，多 128 個尺寸通道 / 十進制；
• 適用于高達 10^8 顆粒 / cm^3 的濃度；
• 跟其他制造商的 DMA 和納米顆粒計數(shù)器通用；
• 圖形顯示測量結(jié)果；
• 7 英寸觸摸屏和 GUI 直觀操作；
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄儀；
• 支持多種接口和遠程訪問；
• 低維護；
• 功能可靠；
• 減少您的運營費用

典型應用

• 過濾測試；
• 氣溶膠研究；
• 環(huán)境與氣候研究；
• 吸入實驗；
• 室內(nèi)和工作場所測量

Palas®中國將定期安排針對SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀、MFP系列濾料測試臺、PMFT口罩過濾效率測試臺、Promo®氣溶膠光譜儀、氣溶膠發(fā)生器和稀釋系統(tǒng)，以及Fidas®和AQ Guard空氣顆粒物濃度監(jiān)測儀、HMT測試系統(tǒng)等解決方案的在線中英文網(wǎng)絡研討會，歡迎您注冊參會，盡快時間獲悉在線研討會信息！

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作為氣溶膠測量技術的專家，Palas®將其在顆粒和過濾技術領域制定安全標準的長期專業(yè)知識帶入了中國，將其*的技術集成在高精度和認證儀器中，可用于生產(chǎn)和表征空氣中的顆粒。除此之外，還將開展培訓課程和研討會來傳遞專業(yè)知識。2020年7月，Palas®中國在上海成立運營，以更好地服務于亞洲市場。Palas®不僅將德國品質(zhì)帶入中國，而且還滿足您進行安全可靠測試所需的所有相關規(guī)范和標準。作為一家通過ISO 9001：2015質(zhì)量管理體系認證的公司，Palas®的解決方案符合歐洲標準（EN）、美國國家職業(yè)安全衛(wèi)生研究所標準（NIOSH）、以及中國GB2626口罩檢測標準。

帕剌斯儀器（上海）有限公司

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