TOFD全解析-09-檢測前準備-盲區(qū)的計算

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前面講了主機、探頭和楔塊的準備，其實要準備的東西還挺多，聽我給您一一道來。

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前面“TOFD全解析-07-等聲時橢圓線及盲區(qū)”中曾經(jīng)提到了TOFD檢測盲區(qū)的問題，因而在檢測前的準備中，就需要了解具體的盲區(qū)是多少，這樣有助于進行工藝的選擇。同時還需要了解如何減少TOFD檢測的盲區(qū)。

咱們先來看一下如果計算TOFD檢測的直通波盲區(qū)：

假設聲速為c,探頭中心距為2s,直通波到達時間TL=2s/c,直通波脈沖時間寬度為Tp,則

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上表面的上表面盲區(qū)計算公司可知，在聲速一定的前提下，減小探頭中心距（PCS）可以減小上表面盲區(qū)，但同時由于上表面焊縫余高和覆蓋范圍的限制，有時無法減小探頭中心距。

從上面公式可知，還可以通過通過減小直通波脈沖時間的方法來減小盲區(qū)，而直通波脈沖時間與探頭頻率相關，頻率越高，脈沖時間越小。因而通過提高探頭頻率也可以減小上表面盲區(qū)，但同時穿透能力下降。

如果PCS和探頭都無法改變的時候，該如何彌補上表面的盲區(qū)呢？

- TOFD與脈沖反射法組合檢測

通過相控陣或者常規(guī)超聲的二次斜入射聲波可以覆蓋工件的上表面缺陷。

- 爬波檢測上表面盲區(qū)

通過爬波探頭，生產(chǎn)表面的爬波聲束，也可以覆蓋上表面盲區(qū)部分，但通常爬波的傳播距離有限，因而也跟焊帽寬度有關，如果焊帽寬度太寬，也可能無法完整覆蓋整個上表面區(qū)域。

- 雙面掃查減小盲區(qū):

上表面盲區(qū)通常超過5mm,而下表面盲區(qū)只有0.5-1mm,軸偏離底面盲區(qū)一般也只有1-3mm，因而可以利用下表面盲區(qū)更小的特點，使用雙面掃查來提高表面盲區(qū)。

- 渦流\磁粉\滲透檢測上表面盲區(qū)

通過其他的表面檢測手段來彌補上表面的盲區(qū)部分。

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焊縫中心底面盲區(qū):通常很小,對于底面無余高的焊縫,盲區(qū)一般不超過1mm,甚至小于0.5mm.如果底面有余高,盲區(qū)會增大,余高部分處于盲區(qū)范圍,因而其中的缺陷不能檢出.

軸偏離底面盲區(qū):距離中心線越遠,盲區(qū)高度越大.增加PCS可以減小軸偏離底面盲區(qū) .

對于X型坡口,由于熱影響區(qū)缺陷的軸偏離大,不利于檢出,所以可以考慮增加兩次偏置掃查,以防止盲區(qū)內(nèi)缺陷漏檢.

待續(xù)

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文章轉自工業(yè)檢測大時代