R4 比色皿光譜測量系統(tǒng)淺析通用反射/透射光譜測量

來源：上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司 2020年05月09日 09:39

　　第一部分反射光譜測量

　　物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美的平整表面上的反射是鏡面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多數(shù)物體表面的反射則介于兩者之間。

　　對于鏡面反射，一般使用反射光纖測量0度角入射，0度角反射的方式測量。而對于漫反射，則一般使用積分球測量。除此之外，鏡面反射還可以通過45度角入射，45度角反射衡量；漫反射也可以通過0度角入射，45度角反射衡量。具體視樣品及采用的測量標準而定。

　　紅色框是倒置式的鏡面反射光譜測量方式。由于這種方式可以保持樣品至反射光纖的距離和標準參比樣品至反射光纖的距離精確相等，因此，倒置光譜測量方式更加適合于需要精確測量光譜反射率的場合。

　　綠色框是倒置的積分球反射光譜測量方式，可以采用8度角照射，90度角接受，也可以采用90度角照射，8度角接受的方式。這種方式適合于毛糙表面或絨面樣品的反射率測量。

　　第二部分透射光譜測量

　　透射與反射的情況相似，對完美平整樣品和粗糙樣品的透射光譜測量方式是不同的。對于完美的平整樣品，采用0度角入射、180度角接受即可；對于粗糙樣品，則需要采用0度角入射、積分球接收的形式。

　　另外，固態(tài)樣品和液態(tài)樣品的透過率測量也不同。固態(tài)樣品，如薄膜、濾光片等，通常采用R2透過光譜測量支架測量，而液體則使用標準比色皿承載，在R4這樣的比色皿光譜測量支架中測量。

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