X射線衍射技術(shù)(X-raydiffraction，XRD)。是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。

單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)?；驹恚涸谝涣尉w中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。

多晶衍射儀也被稱為粉末衍射儀，被測對象通常為粉末、多晶體金屬或高聚物等塊體材料?；驹恚寒?dāng)一束連續(xù)的X射線照射到一個晶體上，會受到晶體上原子的散射，由于每個原子在晶體中是周期性排列，這些散射波之間存在固定的位相關(guān)系，他們之間會在空間上產(chǎn)生干涉，結(jié)果導(dǎo)致在某些方向相互疊加，某些方向相互抵消，只有在特定的方向上產(chǎn)生散射線加強(qiáng)的衍射斑點。

島津X射線衍射儀可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點陣常數(shù)的精密測定,晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計算,宏觀殘余應(yīng)力測定,結(jié)晶度計算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征常規(guī)和有效的方法之一。