PCT加速老化箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

PCT加速老化箱產(chǎn)品可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)的目的是通過對(duì)系統(tǒng)性故障的原因進(jìn)行分析，糾正誘發(fā)產(chǎn)品系統(tǒng)性故障的缺陷，使可靠性得到提高，針對(duì)誘發(fā)產(chǎn)品系統(tǒng)性故障的缺陷不同，其處理方法也不同。

PCT加速老化箱一般系統(tǒng)性故障可分為：

A類故障：不予糾正的故障

不予糾正的故障是指對(duì)可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)中出現(xiàn)的某些系統(tǒng)性故障不進(jìn)行糾正．不糾正這些故障可能是由于受當(dāng)前國(guó)內(nèi)外技術(shù)水平的限制無法糾正，也可能是由于糾正該故障需要大量費(fèi)用，經(jīng)濟(jì)上不合算或無法承受等原因。

B類故障：可糾正故障

它是故障率超出了容許水平，從糾正措施的效費(fèi)比權(quán)衡后，應(yīng)予糾正的故障。

顯然，當(dāng)PCT測(cè)試儀產(chǎn)品的所有系統(tǒng)性故障均被視為A類故障時(shí)，產(chǎn)品可靠性將不會(huì)增長(zhǎng)，因此，為了保證產(chǎn)品可靠性增長(zhǎng)較快，應(yīng)提高B類故障在系統(tǒng)性故障中的比例。