一、 無損檢測(NDT):
內(nèi)部檢測、表面檢測
二、 探傷主要分為五類:
| | 類別 | 優(yōu)缺點 |
| 內(nèi)部缺陷檢測 | 射線探傷 | 直觀,但有輻射,成本高,所測工件不能太厚 |
| 超生波探傷 | A掃描,*,成本低,檢測工件厚度大 | |
| 表面缺陷 | 磁粉探傷 | 檢測工件表面,但內(nèi)部缺陷不能測 |
| 渦流探傷 | ||
| 滲透探傷 |
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