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涂層測厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別
涂層測厚儀和膜厚儀之間有什么區(qū)別？膜厚儀和涂層測厚儀是同一種產(chǎn)品，叫法不一樣，就好像光澤儀大家會叫光澤度儀，光澤度計，光澤測試儀。
膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品。
膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。
涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層，比如中科樸道的PD-CT2涂層測厚儀就可以測量氧化層。
兩者是只是根據(jù)材料有細微區(qū)別，不過現(xiàn)在使用者很多不了解，也相互稱呼。
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