等離子發(fā)射光譜(ICP-OES)在冶金行業(yè)微量元素的準(zhǔn)確定量中得以廣泛應(yīng)用，因?yàn)槠浜?jiǎn)化了樣品前處理，無(wú)需復(fù)雜的基體分離和元素富集，更不會(huì)引入其他干擾元素和雜質(zhì)。同時(shí)樣品不需要過(guò)量稀釋而引入稀釋誤差。盡管有如此多的優(yōu)點(diǎn)在先，其在該領(lǐng)域運(yùn)用也有不可規(guī)避的挑戰(zhàn)：光譜干擾。許多基體有非常復(fù)雜的發(fā)射譜線，例如鐵有2000條譜線，這就增加了元素間譜線干擾的可能。在冶金行業(yè)，因微量元素含量低，稀釋倍數(shù)受限，所以其基體的光譜干擾就變得尤為突出。雖然目前有多種消除干擾的數(shù)據(jù)處理方法，PerkinElmer公司的多譜線擬合矯正（MSF）技術(shù)是強(qiáng)大和易操作的。對(duì)于多譜線擬合矯正方法有過(guò)很詳細(xì)的介紹，見(jiàn)參考文獻(xiàn)1. 簡(jiǎn)而言之，多譜線擬合就是通過(guò)已知的空白、目標(biāo)元素和干擾元素譜圖疊加而擬合出一個(gè)無(wú)干擾狀態(tài)的峰型。該消除干擾方式包含了所有的光譜信息，與積分背景點(diǎn)、積分點(diǎn)數(shù)等無(wú)關(guān)。
本文利用Avio 500 等離子體發(fā)射光譜儀對(duì)挑戰(zhàn)性的冶金樣品進(jìn)行分析，通過(guò)多譜線擬合（MSF）矯正技術(shù)以得到更加準(zhǔn)確可靠的測(cè)量結(jié)果。
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